绝缘栅介质层的制备方法及其碳化硅器件和碳化硅器件的制备方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910510850.9
申请日
2019-06-13
公开(公告)号
CN110233174A
公开(公告)日
2019-09-13
发明(设计)人
杨良 姚金才 陈宇
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市福田区福保街道市花路5号长富金茂大厦22层2201-01
IPC主分类号
H01L2912
IPC分类号
H01L2102 H01L29423
代理机构
杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289
代理人
姚宇吉
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
碳化硅器件的栅氧化层的制备方法与碳化硅器件 [P]. 
汪洋 ;
张耀辉 .
中国专利 :CN114023633A ,2022-02-08
[2]
碳化硅MOSFET器件栅氧化层的制备方法、碳化硅MOSFET器件及其制备方法 [P]. 
徐思晗 ;
暴杰 ;
林翰东 .
中国专利 :CN119132938A ,2024-12-13
[3]
碳化硅功率器件的制备方法及其碳化硅功率器件 [P]. 
连建伟 ;
林志东 .
中国专利 :CN118800798A ,2024-10-18
[4]
碳化硅器件及其制备方法 [P]. 
毕建雄 .
中国专利 :CN115424934A ,2022-12-02
[5]
碳化硅器件及其制备方法 [P]. 
袁昊 ;
肖莉 ;
王梁永 ;
宋庆文 ;
周显华 ;
何艳静 .
中国专利 :CN112397566A ,2021-02-23
[6]
碳化硅器件及其制备方法 [P]. 
罗顶 ;
徐承福 ;
范美聪 .
中国专利 :CN114628248A ,2022-06-14
[7]
碳化硅器件和用于制造碳化硅器件的方法 [P]. 
R.柯恩 ;
R.鲁普 .
中国专利 :CN109427563A ,2019-03-05
[8]
碳化硅器件和用于形成碳化硅器件的方法 [P]. 
E·菲尔古特 ;
R·K·约希 ;
R·西米尼克 ;
T·巴斯勒 ;
M·格鲁贝尔 ;
J·希尔森贝克 ;
D·彼得斯 ;
R·鲁普 ;
W·肖尔茨 .
德国专利 :CN120390431A ,2025-07-29
[9]
碳化硅器件和用于形成碳化硅器件的方法 [P]. 
E.菲尔古特 ;
R.K.约希 ;
R.西米尼克 ;
T.巴斯勒 ;
M.格鲁贝尔 ;
J.希尔森贝克 ;
D.彼得斯 ;
R.鲁普 ;
W.肖尔茨 .
德国专利 :CN110676322B ,2025-05-30
[10]
碳化硅器件和用于形成碳化硅器件的方法 [P]. 
H-J.舒尔策 ;
T.巴斯勒 ;
A.R.施特格纳 .
中国专利 :CN110931562A ,2020-03-27