扫描测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200980000264.4

申请日：

2009-09-01

公开(公告)号：

CN101821641B

公开(公告)日：

2010-09-01

发明(设计)人：

彼得·沃尔约翰·A·威库考斯基弗瑞德里克·J·纽费克斯

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

G01R313183

IPC分类号：

G01R31304

代理机构：

北京安信方达知识产权代理有限公司 11262

代理人：

栗若木;颜涛

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-10-24	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/3183 申请日:20090901 授权公告日:20130904 终止日期:20160901
2013-09-04	授权	授权
2010-10-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101009084255 IPC(主分类):G01R 31/3183 专利申请号:2009800002644 申请日:20090901
2010-09-01	公开	公开

共 50 条

[21]

基于SVF格式测试输入文件的并行边界扫描测试系统 [P].

王婕 ;

吕志鸿 ;

李闯 ;

王晓瑶 ;

张凯 ;

张瑶 ;

黄建军 ;

杜冰斌 ;

朱新凯 ;

史琪 .

中国专利 :CN120596318A ,2025-09-05

[22]

一种边界扫描测试系统及方法 [P].

章凡 ;

王滨华 ;

崔会龙 .

中国专利 :CN103941175A ,2014-07-23

[23]

扫描测试系统及其控制装置和控制方法 [P].

肖圣光 ;

S·维贾伊库马尔 ;

W·H·刘 ;

J·佑 ;

J·徐 ;

S·索 .

中国专利 :CN110658438A ,2020-01-07

[24]

扫描测试系统及其控制装置和控制方法 [P].

肖圣光 ;

S·维贾伊库马尔 ;

W·H·刘 ;

J·佑 ;

J·徐 ;

S·索 .

美国专利 :CN110658438B ,2024-09-17

[25]

高压Z扫描光学测试系统 [P].

潘凌云 ;

李静怡 ;

张宇 ;

崔田 .

中国专利 :CN214749720U ,2021-11-16

[26]

一种可扩展型边界扫描测试系统 [P].

尤路 ;

刘军 ;

夏勇 ;

张卿 ;

杨志谦 .

中国专利 :CN202735479U ,2013-02-13

[27]

用于测试于集成电路中实施的设计的扫描测试系统 [P].

彼得·沃而 ;

约翰·威库考斯基 ;

弗瑞德里克·纽费克斯 .

中国专利 :CN201740851U ,2011-02-09

[28]

一种扫描架测试系统 [P].

包晓军 ;

刘远曦 ;

李琳 ;

徐挚仁 ;

刘航 ;

杨精波 ;

吕刚立 .

中国专利 :CN222280674U ,2024-12-31

[29]

芯片扫描链测试方法和系统 [P].

罗许喜 ;

徐红如 ;

刘楷 .

中国专利 :CN111220900A ,2020-06-02

[30]

一种电池出货前扫描测试方法及其系统 [P].

程远 ;

张方媛 ;

衣思平 ;

茅宁 .

中国专利 :CN101976401A ,2011-02-16

← 1 2 3 4 5 →