扫描测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200980000264.4

申请日：

2009-09-01

公开(公告)号：

CN101821641B

公开(公告)日：

2010-09-01

发明(设计)人：

彼得·沃尔约翰·A·威库考斯基弗瑞德里克·J·纽费克斯

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

G01R313183

IPC分类号：

G01R31304

代理机构：

北京安信方达知识产权代理有限公司 11262

代理人：

栗若木;颜涛

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-10-24	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/3183 申请日:20090901 授权公告日:20130904 终止日期:20160901
2013-09-04	授权	授权
2010-10-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101009084255 IPC(主分类):G01R 31/3183 专利申请号:2009800002644 申请日:20090901
2010-09-01	公开	公开

共 50 条

[41]

一种基于边界扫描JTAG测试系统 [P].

蔡旭 ;

陈旭 ;

陆永健 .

中国专利 :CN115639463A ,2023-01-24

[42]

一种扫描装置及无线测试系统 [P].

于伟 ;

沈鹏辉 ;

黄伟光 .

中国专利 :CN223244702U ,2025-08-19

[43]

一种扫描式光源测试系统 [P].

金亚方 ;

刘石神 ;

陈要玲 ;

蒋威 ;

刘从峰 .

中国专利 :CN104697752A ,2015-06-10

[44]

基于天线测试系统的扫描架俯仰装置 [P].

袁万里 .

中国专利 :CN207281180U ,2018-04-27

[45]

测试方法及测试系统 [P].

崔俊健 ;

王安民 .

中国专利 :CN109991496B ,2019-07-09

[46]

测试方法和测试系统 [P].

李明法 ;

陈加新 ;

梁振宇 ;

王丽 ;

马卫振 .

中国专利 :CN119511082A ,2025-02-25

[47]

测试系统和测试方法 [P].

王敏 ;

刘宇 ;

谢春艳 ;

贺灵 ;

黄刚林 ;

安泰 ;

徐良平 ;

张航航 ;

邓洁铮 ;

刘尚军 ;

王子勇 ;

谢聪 ;

付月生 ;

郭勇权 ;

盛毅 .

中国专利 :CN112711504B ,2021-04-27

[48]

测试箱、及测试系统 [P].

韩立明 ;

罗刚 .

中国专利 :CN207704426U ,2018-08-07

[49]

测试电路及测试系统 [P].

吴勇 .

中国专利 :CN221977047U ,2024-11-08

[50]

测试电路、测试系统和测试方法 [P].

陈晶晶 ;

曾雪松 ;

李若园 .

中国专利 :CN116027167B ,2025-10-24

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