一种三维集成电路硅通孔容错结构

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202022678084.8
申请日
2020-11-17
公开(公告)号
CN213583753U
公开(公告)日
2021-06-29
发明(设计)人
常郝 倪天明 梁后军 李峰
申请人
申请人地址
233000 安徽省蚌埠市曹山路962号
IPC主分类号
H01L23367
IPC分类号
H01L23467
代理机构
北京化育知识产权代理有限公司 11833
代理人
涂琪顺
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
三维集成电路中缺陷硅通孔的容错电路 [P]. 
裴颂伟 ;
张静东 ;
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[2]
三维集成电路结构 [P]. 
倪吉祥 .
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[3]
三维集成电路及其硅通孔容错修复电路、容错修复方法 [P]. 
符露 ;
赵毅 ;
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[4]
三维集成电路及其硅通孔容错修复电路、容错修复方法 [P]. 
符露 ;
赵毅 ;
李少白 ;
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中国专利 :CN119170611B ,2025-02-14
[5]
硅通孔信号导通控制电路和三维集成电路 [P]. 
杨正杰 .
中国专利 :CN208956012U ,2019-06-07
[6]
三维集成电路结构 [P]. 
陈宪伟 ;
杨庆荣 ;
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中国专利 :CN110648995A ,2020-01-03
[7]
三维集成电路结构 [P]. 
俞崇楷 ;
王振孝 ;
徐一峰 ;
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[8]
三维集成电路结构 [P]. 
袁景滨 ;
余振华 ;
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[9]
一种基于硅通孔技术的三维集成电路箱 [P]. 
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[10]
三维集成电路结构 [P]. 
陈明发 ;
邱文智 ;
眭晓林 .
中国专利 :CN102024781B ,2011-04-20