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一种表面发射率测量装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201921823028.X
申请日
:
2019-10-28
公开(公告)号
:
CN210719419U
公开(公告)日
:
2020-06-09
发明(设计)人
:
许铁军
姚达毛
韩乐
田焜
张斌
申请人
:
申请人地址
:
230031 安徽省合肥市庐阳区蜀山湖路350号
IPC主分类号
:
G01J510
IPC分类号
:
G01J512
代理机构
:
北京科迪生专利代理有限责任公司 11251
代理人
:
杨学明
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-06-09
授权
授权
共 50 条
[21]
一种发射率测量装置的校准方法
[P].
张宇峰
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张宇峰
;
安东阳
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安东阳
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王洋
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王洋
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唐增武
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唐增武
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戴景民
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戴景民
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刘钊
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刘钊
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贾辉
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贾辉
;
刘文皓
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刘文皓
.
中国专利
:CN114184569A
,2022-03-15
[22]
一种手持式外场面发射率测量装置
[P].
高佳星
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高佳星
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邰会强
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邰会强
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张安琪
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张安琪
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刘先富
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刘先富
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张百灵
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张百灵
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隋永华
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隋永华
;
兰宇丹
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兰宇丹
.
中国专利
:CN217484182U
,2022-09-23
[23]
一种外场便携式地表发射率测量装置
[P].
吴骅
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吴骅
.
中国专利
:CN209624363U
,2019-11-12
[24]
黑体样品一体式发射率测量装置
[P].
李龙飞
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李龙飞
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于坤
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于坤
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刘玉芳
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刘玉芳
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张凯华
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张凯华
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张飞麟
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张飞麟
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张峰
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张峰
.
中国专利
:CN205246576U
,2016-05-18
[25]
一种表面发射率测试仪
[P].
周建军
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周建军
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叶林
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叶林
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王德友
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王德友
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葛俊峰
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葛俊峰
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蔚夺魁
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蔚夺魁
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江先军
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江先军
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陆海鹰
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陆海鹰
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邹建红
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邹建红
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张兴
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张兴
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吴小军
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吴小军
.
中国专利
:CN103175783B
,2013-06-26
[26]
一种快速测量表面红外半球发射率的装置
[P].
徐斌
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徐斌
;
魏俊
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魏俊
.
中国专利
:CN204789423U
,2015-11-18
[27]
表面温度和发射率的测量装置和测量方法
[P].
谢植
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沈阳泰合冶金测控技术有限公司
沈阳泰合冶金测控技术有限公司
谢植
;
车勋建
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沈阳泰合冶金测控技术有限公司
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车勋建
;
谢淇先
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沈阳泰合冶金测控技术有限公司
沈阳泰合冶金测控技术有限公司
谢淇先
;
王立忠
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机构:
沈阳泰合冶金测控技术有限公司
沈阳泰合冶金测控技术有限公司
王立忠
.
中国专利
:CN108240865B
,2024-03-29
[28]
表面温度和发射率的测量装置和测量方法
[P].
谢植
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谢植
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车勋建
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车勋建
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谢淇先
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谢淇先
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王立忠
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王立忠
.
中国专利
:CN108240865A
,2018-07-03
[29]
一种红外热像仪快速测量材料表面发射率的方法
[P].
翟玉卫
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翟玉卫
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梁法国
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梁法国
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郑世棋
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郑世棋
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乔玉娥
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乔玉娥
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刘霞美
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刘霞美
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中国专利
:CN103675019B
,2014-03-26
[30]
一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法
[P].
沈庆刚
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沈庆刚
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夏玉保
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夏玉保
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夏飞云
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夏飞云
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中国专利
:CN106248214A
,2016-12-21
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