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一种表面发射率测量装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201921823028.X
申请日
:
2019-10-28
公开(公告)号
:
CN210719419U
公开(公告)日
:
2020-06-09
发明(设计)人
:
许铁军
姚达毛
韩乐
田焜
张斌
申请人
:
申请人地址
:
230031 安徽省合肥市庐阳区蜀山湖路350号
IPC主分类号
:
G01J510
IPC分类号
:
G01J512
代理机构
:
北京科迪生专利代理有限责任公司 11251
代理人
:
杨学明
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-06-09
授权
授权
共 50 条
[41]
一种表面发射率在线测试装置及其方法
[P].
安巍
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安巍
.
中国专利
:CN111207840B
,2020-05-29
[42]
一种稳态量热计法半球发射率测试仪
[P].
杨麟
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杨麟
;
曾鸣
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曾鸣
;
何勃
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何勃
;
杜玉辉
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杜玉辉
;
赵军明
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赵军明
;
候志全
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候志全
.
中国专利
:CN203894183U
,2014-10-22
[43]
一种稳态量热计法半球发射率测试仪
[P].
杨麟
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杨麟
;
曾鸣
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曾鸣
;
何勃
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何勃
;
杜玉辉
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杜玉辉
;
赵军明
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赵军明
;
候志全
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候志全
.
中国专利
:CN103969291B
,2014-08-06
[44]
一种面源黑体发射率测量装置及方法
[P].
邱超
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
邱超
;
王加朋
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
王加朋
;
王莹莹
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北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
王莹莹
;
李建亮
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
李建亮
;
宋春晖
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
宋春晖
;
杨树辉
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机构:
北京振兴计量测试研究所
北京振兴计量测试研究所
杨树辉
.
中国专利
:CN120213234A
,2025-06-27
[45]
红外法向发射率测量装置及方法
[P].
冯国进
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冯国进
;
郑春弟
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郑春弟
.
中国专利
:CN102095750A
,2011-06-15
[46]
一种黑体绝对发射率的测量装置及方法
[P].
冯国进
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冯国进
;
吴厚平
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吴厚平
;
林延东
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林延东
.
中国专利
:CN108037095B
,2018-05-15
[47]
一种微波黑体发射率测量装置及测量方法
[P].
李彬
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李彬
;
金铭
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金铭
;
王晓峰
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王晓峰
.
中国专利
:CN108981922A
,2018-12-11
[48]
一种物体表面发射率现场校准方法
[P].
陈乐
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陈乐
;
王则瑶
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王则瑶
;
富雅琼
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富雅琼
.
中国专利
:CN104006887B
,2014-08-27
[49]
一种快速切换式发射率测量装置及测量方法
[P].
李宁杰
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李宁杰
;
李贝贝
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李贝贝
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刘瑞
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刘瑞
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杨永键
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杨永键
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李向芹
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李向芹
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谢振超
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谢振超
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徐红新
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徐红新
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翁艺航
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翁艺航
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姜丽菲
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姜丽菲
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钱志鹏
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钱志鹏
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中国专利
:CN110044490A
,2019-07-23
[50]
一种涂层材料表面高温发射率测试方法
[P].
王曲
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王曲
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王刚
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王刚
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李凌锋
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李凌锋
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张琪
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张琪
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杜鹏辉
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杜鹏辉
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王来稳
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王来稳
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赵世贤
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赵世贤
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李虹屿
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李虹屿
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梁鹏鹏
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梁鹏鹏
.
中国专利
:CN115096940A
,2022-09-23
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