一种表面发射率测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921823028.X

申请日：

2019-10-28

公开(公告)号：

CN210719419U

公开(公告)日：

2020-06-09

发明(设计)人：

许铁军姚达毛韩乐田焜张斌

申请人：

申请人地址：

230031 安徽省合肥市庐阳区蜀山湖路350号

IPC主分类号：

G01J510

IPC分类号：

G01J512

代理机构：

北京科迪生专利代理有限责任公司 11251

代理人：

杨学明

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-09	授权	授权

共 50 条

[1]

材料表面发射率测量装置 [P].

赵雨晨 ;

张恒成 ;

沈福至 ;

黄子淳 ;

李来风 .

中国专利 :CN220568657U ,2024-03-08

[2]

材料表面发射率测量装置 [P].

赵雨晨 ;

张恒成 ;

沈福至 ;

黄子淳 ;

李来风 .

中国专利 :CN119354924A ,2025-01-24

[3]

一种液态金属表面发射率的测量装置 [P].

陆道纲 ;

于宗玉 ;

王汉 ;

朱宇轩 .

中国专利 :CN216696126U ,2022-06-07

[4]

一种表面发射率测量系统 [P].

于浩 ;

张志学 ;

张羽鹏 ;

薛秀生 ;

叶林 ;

葛俊锋 ;

桂康 ;

侯雷 ;

潘心正 .

中国专利 :CN105890773A ,2016-08-24

[5]

一种高温物体表面发射率测量装置 [P].

张焱 ;

白盼盼 ;

王晋 ;

刘庆 ;

郭昊东 .

中国专利 :CN120063498A ,2025-05-30

[6]

表面温度和发射率的测量装置 [P].

谢植 ;

车勋建 ;

谢淇先 ;

王立忠 .

中国专利 :CN206330670U ,2017-07-14

[7]

一种红外发射率测定装置 [P].

陈力 ;

程健丽 .

中国专利 :CN205301218U ,2016-06-08

[8]

一种材料光谱发射率测量装置 [P].

李宇航 ;

占春连 .

中国专利 :CN223449794U ,2025-10-17

[9]

一种材料极化方向发射率测量装置 [P].

李龙飞 ;

于坤 ;

刘玉芳 ;

张凯华 ;

张飞麟 ;

张峰 ;

刘彦磊 .

中国专利 :CN205246582U ,2016-05-18

[10]

一种导电材料的发射率测量装置 [P].

熊兵 ;

李杨 ;

赵会妮 ;

龚强国 .

中国专利 :CN203479710U ,2014-03-12

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