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一种集成电路测试系统的数字测试模块
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201922309521.6
申请日：
2019-12-20
公开(公告)号：
CN212031657U
公开(公告)日：
2020-11-27
发明(设计)人：
李杰
申请人：
申请人地址：
100088 北京市海淀区北三环中路31号泰思特大厦A座9层
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R31317
G01R104
代理机构：
北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381
代理人：
陈曦;任佳
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-11-27 | 授权 | 授权 |