用于标记用于摄谱监测的机器学习系统的训练光谱的原位监测

被引：0

申请号：

CN202210210644.8

申请日：

2022-03-03

公开(公告)号：

CN115099386A

公开(公告)日：

2022-09-23

发明(设计)人：

T·李 B·切里安

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

G06N304

IPC分类号：

G06N308 G06K962 G01B1106

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

侯颖媖;张鑫

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-23	公开	公开

共 50 条

[1]

用于光谱监测的机器学习系统的训练光谱产生 [P].

B·切里安 ;

N·威斯韦尔 ;

J·钱 ;

T·H·奥斯特海德 .

中国专利 :CN111587478A ,2020-08-25

[2]

用于光谱监测的机器学习系统的训练光谱产生 [P].

B·切里安 ;

N·威斯韦尔 ;

J·钱 ;

T·H·奥斯特海德 .

美国专利 :CN111587478B ,2025-02-21

[3]

用于半导体处理的监测的机器学习系统 [P].

G·叶尼 ;

B·切里安 .

美国专利 :CN111902924B ,2024-11-29

[4]

用于半导体处理的监测的机器学习系统 [P].

G·叶尼 ;

B·切里安 .

中国专利 :CN111902924A ,2020-11-06

[5]

生成用于机器学习系统的训练数据 [P].

P·D·迪斯 ;

H·A·霍金斯 ;

T·S·洛佩尔 ;

G·A·罗萨里奥 .

中国专利 :CN112784866A ,2021-05-11

[6]

通过机器学习系统监测路况的方法和系统及训练机器学习系统的方法 [P].

S·施拉布勒 ;

N·克里斯特曼 ;

P·德赖赛特 ;

E·克拉夫特 ;

B·哈特曼 ;

F·盖斯 .

德国专利 :CN119365902A ,2025-01-24

[7]

用于训练机器学习系统的方法和设备 [P].

谷年龙 ;

L·高尔霍夫 .

德国专利 :CN113994349B ,2025-10-03

[8]

用于训练机器学习系统的方法和装置 [P].

S·齐舍 ;

K·恩辛格 .

德国专利 :CN121039671A ,2025-11-28

[9]

用于训练机器学习系统的方法和设备 [P].

F·伯克尔 ;

K·P·瓦伯西奇 .

德国专利 :CN120068982A ,2025-05-30

[10]

用于训练机器学习系统的方法和设备 [P].

F·伯克尔 ;

K·P·瓦伯西奇 ;

N·哈兹基里亚科斯 .

德国专利 :CN121039578A ,2025-11-28

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