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带电粒子束装置和带电粒子束装置的调整方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201480033874.5
申请日
:
2014-04-04
公开(公告)号
:
CN105359250B
公开(公告)日
:
2016-02-24
发明(设计)人
:
重藤训志
佐藤贡
斋藤勉
细谷幸太郎
高鉾良浩
安藤彻
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
H01J3728
IPC分类号
:
H01J3709
H01J3720
代理机构
:
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
:
范胜杰;文志
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-03-23
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101651550894 IPC(主分类):H01J 37/28 专利申请号:2014800338745 申请日:20140404
2016-02-24
公开
公开
2016-11-30
授权
授权
共 50 条
[1]
带电粒子束装置以及带电粒子束装置的调整方法
[P].
尾方智彦
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尾方智彦
;
长谷川正树
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长谷川正树
;
村越久弥
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村越久弥
;
小贯胜则
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小贯胜则
;
兼冈则幸
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兼冈则幸
.
中国专利
:CN108604522B
,2018-09-28
[2]
带电粒子束装置的焦点调整方法和带电粒子束装置
[P].
冢本一德
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冢本一德
;
千叶悠希
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千叶悠希
.
中国专利
:CN112309809A
,2021-02-02
[3]
带电粒子束装置、带电粒子束装置的控制方法
[P].
青木贤治
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青木贤治
;
斋藤勉
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斋藤勉
;
细谷幸太郎
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细谷幸太郎
;
中村光宏
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中村光宏
;
重藤训志
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重藤训志
.
中国专利
:CN105593966A
,2016-05-18
[4]
操作带电粒子束装置的方法和带电粒子束装置
[P].
S·巴尔迪
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机构:
ICT半导体集成电路测试有限公司
ICT半导体集成电路测试有限公司
S·巴尔迪
;
P·阿达麦茨
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机构:
ICT半导体集成电路测试有限公司
ICT半导体集成电路测试有限公司
P·阿达麦茨
.
德国专利
:CN119864267A
,2025-04-22
[5]
带电粒子束装置和操作带电粒子束装置的方法
[P].
B·J·库克
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B·J·库克
.
中国专利
:CN114586128A
,2022-06-03
[6]
带电粒子束装置和操作带电粒子束装置的方法
[P].
B·J·库克
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机构:
ICT半导体集成电路测试有限公司
ICT半导体集成电路测试有限公司
B·J·库克
.
德国专利
:CN114586128B
,2024-12-20
[7]
带电粒子束装置
[P].
清原正宽
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机构:
株式会社日立高新技术分析
株式会社日立高新技术分析
清原正宽
;
上本敦
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机构:
株式会社日立高新技术分析
株式会社日立高新技术分析
上本敦
.
日本专利
:CN113496859B
,2025-12-19
[8]
带电粒子束装置
[P].
村上雄大
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机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
村上雄大
;
根本佳和
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机构:
日本电子株式会社
日本电子株式会社
根本佳和
.
日本专利
:CN111696842B
,2024-06-21
[9]
带电粒子束装置
[P].
铃木将人
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0
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铃木将人
;
富松聪
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富松聪
;
佐藤诚
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佐藤诚
;
麻畑达也
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麻畑达也
.
中国专利
:CN110335800A
,2019-10-15
[10]
带电粒子束装置
[P].
富松聪
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富松聪
;
佐藤诚
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佐藤诚
;
上本敦
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上本敦
;
麻畑达也
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麻畑达也
.
中国专利
:CN105910855B
,2016-08-31
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