测试系统和测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201680058735.7

申请日：

2016-10-06

公开(公告)号：

CN108449935B

公开(公告)日：

2018-08-24

发明(设计)人：

J·艾彻 J·埃格曼 J·格泽 A·彼得斯 H-J·克尔贝尔

申请人：

申请人地址：

德国多特蒙德

IPC主分类号：

B05B1100

IPC分类号：

B05B1540 G01M9900

代理机构：

北京坤瑞律师事务所 11494

代理人：

封新琴

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-08-24	公开	公开
2018-11-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B05B 11/00 申请日:20161006
2021-08-20	授权	授权

共 50 条

[1]

测试方法和测试系统 [P].

于圣慧 .

中国专利 :CN110187250A ,2019-08-30

[2]

测试系统和测试方法 [P].

吴科标 ;

何岩 .

中国专利 :CN118227441A ,2024-06-21

[3]

测试系统和测试方法 [P].

F·基斯奇 ;

A·斯洽奇特 ;

S·温克勒 .

德国专利 :CN120752618A ,2025-10-03

[4]

测试方法、测试设备和测试系统 [P].

李一路 ;

杨荣康 ;

郭启云 ;

李峰辉 ;

李兴国 ;

王鹏程 ;

温凯 ;

刘永成 ;

黄满义 ;

付乃峰 ;

张小飞 .

中国专利 :CN113009248A ,2021-06-22

[5]

结构测试系统和测试方法 [P].

山岸渡 ;

堀内敏彦 ;

井上雅彦 ;

梅北和弘 ;

桃井康行 .

中国专利 :CN1247976A ,2000-03-22

[6]

芯片测试方法、测试设备和测试系统 [P].

陈默 ;

郭海丰 ;

段恋华 .

中国专利 :CN111736059B ,2020-10-02

[7]

测试设备、测试方法和飞行测试系统 [P].

赵阳 ;

方敏 ;

陈凯 .

中国专利 :CN113365919A ,2021-09-07

[8]

测试系统、测试控制方法、测试方法和存储介质 [P].

陈江群 ;

廖秋桂 ;

曹兵 ;

李晓亮 ;

罗富贵 .

中国专利 :CN120104475A ,2025-06-06

[9]

芯片测试方法、芯片测试系统和测试设备 [P].

刘伟 ;

朱仁艳 ;

黄金煌 .

中国专利 :CN119805164A ,2025-04-11

[10]

测试方法、测试系统和扫码测试设备 [P].

高伟 ;

张鹏 ;

王军娜 ;

刘璇 .

中国专利 :CN119669051A ,2025-03-21

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