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桥堆高温反偏老化系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201810396360.6
申请日
:
2018-04-27
公开(公告)号
:
CN108646128A
公开(公告)日
:
2018-10-12
发明(设计)人
:
卜建明
柴俊标
谭玉龙
申请人
:
申请人地址
:
311123 浙江省杭州市余杭区仓前街道仓兴街230号3幢
IPC主分类号
:
G01R3102
IPC分类号
:
代理机构
:
杭州中成专利事务所有限公司 33212
代理人
:
朱莹莹
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-10-12
公开
公开
2018-11-06
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/02 申请日:20180427
2020-07-17
授权
授权
共 50 条
[1]
一种高温反偏老化测试系统
[P].
吴志刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴志刚
;
刘年富
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘年富
;
陈益敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈益敏
.
中国专利
:CN217954601U
,2022-12-02
[2]
微波器件高温反偏老化测试系统
[P].
陈益敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈益敏
.
中国专利
:CN214750606U
,2021-11-16
[3]
IGBT模块高温反偏老化测试系统
[P].
袁锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
袁锋
;
盛楠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
盛楠
;
唐德平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐德平
.
中国专利
:CN307087767S
,2022-01-28
[4]
IGBT模块高温反偏老化测试系统
[P].
刘年富
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘年富
.
中国专利
:CN214703868U
,2021-11-12
[5]
高温反偏实时监控系统
[P].
吴欢欢
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴欢欢
;
符强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
符强
;
魏建中
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
魏建中
.
中国专利
:CN203069741U
,2013-07-17
[6]
一种可换向高温反偏老化试验系统
[P].
林华辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州赛睿检测设备有限公司
广州赛睿检测设备有限公司
林华辉
;
黄永军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州赛睿检测设备有限公司
广州赛睿检测设备有限公司
黄永军
;
陈波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州赛睿检测设备有限公司
广州赛睿检测设备有限公司
陈波
;
陈俊威
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州赛睿检测设备有限公司
广州赛睿检测设备有限公司
陈俊威
;
李浪华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州赛睿检测设备有限公司
广州赛睿检测设备有限公司
李浪华
.
中国专利
:CN117406055A
,2024-01-16
[7]
一种用于三电平功率模块的高温反偏老化测试方法
[P].
吴志刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州高裕电子科技股份有限公司
杭州高裕电子科技股份有限公司
吴志刚
;
刘年富
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州高裕电子科技股份有限公司
杭州高裕电子科技股份有限公司
刘年富
;
陈益敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州高裕电子科技股份有限公司
杭州高裕电子科技股份有限公司
陈益敏
;
魏徕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州高裕电子科技股份有限公司
杭州高裕电子科技股份有限公司
魏徕
;
田熠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州高裕电子科技股份有限公司
杭州高裕电子科技股份有限公司
田熠
.
中国专利
:CN117092477B
,2024-03-08
[8]
一种用于三电平功率模块的高温反偏老化测试模块
[P].
吴志刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州高裕电子科技股份有限公司
杭州高裕电子科技股份有限公司
吴志刚
;
刘年富
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州高裕电子科技股份有限公司
杭州高裕电子科技股份有限公司
刘年富
;
陈益敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州高裕电子科技股份有限公司
杭州高裕电子科技股份有限公司
陈益敏
;
魏徕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州高裕电子科技股份有限公司
杭州高裕电子科技股份有限公司
魏徕
;
刘晖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州高裕电子科技股份有限公司
杭州高裕电子科技股份有限公司
刘晖
.
中国专利
:CN117092476B
,2025-01-14
[9]
高温反偏试验设备
[P].
陆军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陆军
;
马永利
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马永利
;
李秀青
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李秀青
.
中国专利
:CN203929991U
,2014-11-05
[10]
高温反偏试验设备
[P].
胡久恒
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
胡久恒
.
中国专利
:CN305604325S
,2020-02-11
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