一种芯片测试工具

被引：0

申请号：

CN202222693492.X

申请日：

2022-10-12

公开(公告)号：

CN218272606U

公开(公告)日：

2023-01-10

发明(设计)人：

徐银森孙泰芳林佳

申请人：

申请人地址：

629000 四川省遂宁市经济技术开发区飞龙路66号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

北京卓恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11394

代理人：

孔鹏

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-10	授权	授权

共 50 条

[1]

一种应用于测试芯片的测试工具 [P].

石含映 ;

李泽民 ;

钟峰 ;

杨亚明 .

中国专利 :CN112416676A ,2021-02-26

[2]

芯片测试工具 [P].

王秀军 ;

陈爱兵 ;

韩元成 ;

萧任村 ;

王浚腾 .

中国专利 :CN104483517B ,2015-04-01

[3]

一种芯片的测试工装 [P].

李振果 ;

黄飞云 ;

高炳程 ;

刘东辉 ;

李材秉 ;

蔡跃祥 ;

谢洪喜 ;

王永忠 ;

周少镛 .

中国专利 :CN216771800U ,2022-06-17

[4]

一种半导体芯片测试工具 [P].

罗奕真 .

中国专利 :CN202815021U ,2013-03-20

[5]

一种芯片流片测试工装 [P].

闫丽 .

中国专利 :CN218471932U ,2023-02-10

[6]

一种芯片流片测试工装 [P].

贾金林 ;

贾金坤 ;

钟春玲 .

中国专利 :CN220854082U ,2024-04-26

[7]

一种半自动芯片测试工装 [P].

段其文 .

中国专利 :CN210347854U ,2020-04-17

[8]

半导体芯片测试工具 [P].

周刚 .

中国专利 :CN212083605U ,2020-12-04

[9]

一种芯片测试工装 [P].

曾伍平 ;

曾怡 .

中国专利 :CN120870840A ,2025-10-31

[10]

用于芯片测试工具的转接座 [P].

资重兴 .

中国专利 :CN2779676Y ,2006-05-10

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