一种应用于测试芯片的测试工具

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011296151.8

申请日：

2020-11-18

公开(公告)号：

CN112416676A

公开(公告)日：

2021-02-26

发明(设计)人：

石含映李泽民钟峰杨亚明

申请人：

申请人地址：

200120 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区盛夏路666号、银冬路122号5幢8层02单元

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

G06F3041 G06F30488

代理机构：

上海申新律师事务所 31272

代理人：

党蕾

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20201118
2021-02-26	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片测试工具 [P].

徐银森 ;

孙泰芳 ;

林佳 .

中国专利 :CN218272606U ,2023-01-10

[2]

芯片测试工具 [P].

王秀军 ;

陈爱兵 ;

韩元成 ;

萧任村 ;

王浚腾 .

中国专利 :CN104483517B ,2015-04-01

[3]

一种芯片测试工装 [P].

曾伍平 ;

曾怡 .

中国专利 :CN120870840A ,2025-10-31

[4]

用于芯片测试工具的转接座 [P].

资重兴 .

中国专利 :CN2779676Y ,2006-05-10

[5]

电源芯片测试系统和用于测试电源芯片的方法 [P].

刘洋 ;

郑春花 ;

姜玉才 .

中国专利 :CN117517930A ,2024-02-06

[6]

一种用于芯片测试的测试工装 [P].

黄昕 ;

廖建平 ;

唐畅 ;

邓立平 .

中国专利 :CN218382941U ,2023-01-24

[7]

芯片测试工具及芯片测试装置 [P].

朱玥琦 ;

王玉忠 ;

胡吉 ;

何绿民 ;

朱捷 .

中国专利 :CN217133316U ,2022-08-05

[8]

用于测试工具的测试框架及一种测试工具 [P].

鹿毅 .

中国专利 :CN105893243A ,2016-08-24

[9]

一种芯片的测试工装 [P].

李振果 ;

黄飞云 ;

高炳程 ;

刘东辉 ;

李材秉 ;

蔡跃祥 ;

谢洪喜 ;

王永忠 ;

周少镛 .

中国专利 :CN216771800U ,2022-06-17

[10]

测试工具 [P].

欧家智 ;

陈冬冬 .

中国专利 :CN223347022U ,2025-09-16

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