一种半导体器件检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420009043.1

申请日：

2014-01-07

公开(公告)号：

CN203705599U

公开(公告)日：

2014-07-09

发明(设计)人：

范士海

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区永定路50号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

北京风雅颂专利代理有限公司 11403

代理人：

李弘;陈安平

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-07-09	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体器件检测装置 [P].

李明 ;

赵正印 ;

韩红培 .

中国专利 :CN205749800U ,2016-11-30

[2]

一种半导体器件封装检测装置 [P].

王静 ;

栗立杨 ;

孟波 ;

金京 .

中国专利 :CN223244468U ,2025-08-19

[3]

一种半导体器件的检测装置 [P].

李稳 .

中国专利 :CN217237764U ,2022-08-19

[4]

一种半导体器件故障检测装置 [P].

康军 .

中国专利 :CN212275880U ,2021-01-01

[5]

半导体器件在位检测装置 [P].

王焕平 .

中国专利 :CN202916452U ,2013-05-01

[6]

半导体器件检测装置以及半导体器件检测方法 [P].

柳弘俊 ;

尹芸重 .

中国专利 :CN102778642B ,2012-11-14

[7]

半导体器件检测装置以及半导体器件检测方法 [P].

柳弘俊 ;

尹芸重 .

中国专利 :CN102214549A ,2011-10-12

[8]

一种半导体器件缺陷视觉检测装置 [P].

徐宝林 ;

陈维龙 .

中国专利 :CN211613464U ,2020-10-02

[9]

半导体器件检测装置 [P].

古田胜信 ;

后藤敏雄 .

中国专利 :CN1192042A ,1998-09-02

[10]

半导体器件高压绝缘检测装置 [P].

陈伟 ;

徐勇 ;

叶建国 ;

韩宙 ;

程华胜 ;

魏春阳 .

中国专利 :CN205910296U ,2017-01-25

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