动态存储器测试装置及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510007984.0

申请日：

2015-01-08

公开(公告)号：

CN105825898B

公开(公告)日：

2016-08-03

发明(设计)人：

萧启维

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹科学工业园区

IPC主分类号：

G11C2956

IPC分类号：

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

陈小雯

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-08-03	公开	公开
2019-04-16	授权	授权
2019-07-12	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G11C 29/56 登记生效日:20190625 变更事项:专利权人变更前权利人:力晶科技股份有限公司变更后权利人:力晶积成电子制造股份有限公司变更事项:地址变更前权利人:中国台湾新竹科学工业园区变更后权利人:中国台湾新竹科学工业园区
2016-08-31	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101676766537 IPC(主分类):G11C 29/56 专利申请号:2015100079840 申请日:20150108

共 50 条

[1]

宽频存储器测试装置及其存储器测试方法 [P].

林哲民 ;

梁志玮 .

中国专利 :CN105321580A ,2016-02-10

[2]

存储器测试装置与存储器测试方法 [P].

苏锦荣 ;

黄睿夫 .

中国专利 :CN104835536A ,2015-08-12

[3]

存储器测试装置及存储器测试方法 [P].

中本幸夫 .

中国专利 :CN1233059A ,1999-10-27

[4]

存储器测试装置和存储器测试方法 [P].

濮必得 ;

殷和国 .

中国专利 :CN118571304A ,2024-08-30

[5]

存储器测试装置和存储器测试方法 [P].

濮必得 ;

殷和国 .

中国专利 :CN118571304B ,2024-11-05

[6]

存储器测试方法、存储器测试装置及其转接器 [P].

何定轩 ;

罗富仁 .

中国专利 :CN103594121A ,2014-02-19

[7]

存储器测试装置及其测试方法 [P].

崔弘默 ;

李惠秀 ;

姜智守 ;

金贤镒 .

中国专利 :CN113257328A ,2021-08-13

[8]

测试装置以及存储器装置的测试方法 [P].

郭盈杉 ;

林立伟 ;

苏祐群 .

中国专利 :CN120808854A ,2025-10-17

[9]

存储器测试方法与存储器测试系统 [P].

林小东 ;

邱智鸿 ;

罗焜聪 ;

张朝凯 .

中国专利 :CN110875081B ,2020-03-10

[10]

存储器测试装置及测试方法 [P].

马亚辉 .

中国专利 :CN119905137A ,2025-04-29

← 1 2 3 4 5 →