测试装置以及存储器装置的测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410900287.7

申请日：

2024-07-05

公开(公告)号：

CN120808854A

公开(公告)日：

2025-10-17

发明(设计)人：

郭盈杉林立伟苏祐群

申请人：

华邦电子股份有限公司

申请人地址：

中国台湾台中市大雅区科雅一路8号

IPC主分类号：

G11C29/12

IPC分类号：

G11C29/36

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

黄健;臧建明

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/12申请日:20240705
2025-10-17	公开	公开

共 50 条

[1]

存储器测试装置与存储器测试方法 [P].

苏锦荣 ;

黄睿夫 .

中国专利 :CN104835536A ,2015-08-12

[2]

阻变存储器测试方法以及测试装置 [P].

赵美然 ;

吴华强 ;

高滨 ;

钱鹤 .

中国专利 :CN109273044A ,2019-01-25

[3]

动态存储器测试装置及其测试方法 [P].

萧启维 .

中国专利 :CN105825898B ,2016-08-03

[4]

存储器测试装置及存储器测试方法 [P].

中本幸夫 .

中国专利 :CN1233059A ,1999-10-27

[5]

存储器测试装置和存储器测试方法 [P].

濮必得 ;

殷和国 .

中国专利 :CN118571304A ,2024-08-30

[6]

存储器测试装置和存储器测试方法 [P].

濮必得 ;

殷和国 .

中国专利 :CN118571304B ,2024-11-05

[7]

存储器测试装置及应用该存储器测试装置的存储器测试机 [P].

资重兴 ;

连绅尧 .

中国专利 :CN2845101Y ,2006-12-06

[8]

存储器的测试方法及测试装置 [P].

第五天昊 .

中国专利 :CN114566207B ,2022-05-31

[9]

存储器的测试方法及测试装置 [P].

黄炜 ;

吴耆贤 .

中国专利 :CN113851182A ,2021-12-28

[10]

存储器的测试装置和测试方法 [P].

王林 .

中国专利 :CN105336377B ,2016-02-17

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