一种MEMS芯片测试插座及加热测温方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811652427.4
申请日
2018-12-31
公开(公告)号
CN109991528A
公开(公告)日
2019-07-09
发明(设计)人
邹波 王苏江
申请人
申请人地址
201315 上海市浦东新区环桥路555弄28号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104 G01R144
代理机构
代理人
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种MEMS芯片测试插座 [P]. 
邹波 ;
王苏江 .
中国专利 :CN209878943U ,2019-12-31
[2]
MEMS芯片测试插座上盖及插座 [P]. 
邹波 ;
王苏江 .
中国专利 :CN213364820U ,2021-06-04
[3]
芯片测试插座及芯片测试方法 [P]. 
韩信 ;
路瑶 ;
于长亮 .
中国专利 :CN116148510B ,2025-12-05
[4]
一种芯片测试插座及其测试方法 [P]. 
卢鑫 ;
吴俊超 ;
金永斌 ;
王强 ;
贺涛 ;
丁宁 ;
朱伟 .
中国专利 :CN120928159A ,2025-11-11
[5]
一种电抗可控芯片测试插座 [P]. 
陶西昂 ;
潘杰姆 ;
周家春 ;
杨晓勇 .
中国专利 :CN101710659A ,2010-05-19
[6]
一种电抗可控芯片测试插座 [P]. 
陶西昂 ;
潘杰姆 ;
周家春 ;
杨晓勇 .
中国专利 :CN201662582U ,2010-12-01
[7]
一种芯片测试插座 [P]. 
胡佳伟 ;
梁建 ;
罗雄科 ;
何亚军 .
中国专利 :CN117214484B ,2024-02-02
[8]
一种芯片测试插座 [P]. 
蒋卫兵 ;
王为令 .
中国专利 :CN217385574U ,2022-09-06
[9]
一种芯片测试插座 [P]. 
宫亮 ;
宫明 .
中国专利 :CN212674969U ,2021-03-09
[10]
一种芯片测试插座 [P]. 
冯恒超 ;
杨小明 .
中国专利 :CN223426721U ,2025-10-10