切割薄膜、切割/芯片接合薄膜及半导体装置的制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510148818.2
申请日
2015-03-31
公开(公告)号
CN104946152A
公开(公告)日
2015-09-30
发明(设计)人
木村雄大 三隅贞仁 村田修平 大西谦司 宍户雄一郎
申请人
申请人地址
日本大阪府
IPC主分类号
C09J702
IPC分类号
H01L21683 H01L2178
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
刘新宇;李茂家
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
切割带、切割芯片接合薄膜和半导体装置制造方法 [P]. 
靍泽俊浩 ;
小坂尚史 ;
三木香 ;
木村雄大 ;
高本尚英 ;
大西谦司 ;
杉村敏正 ;
赤泽光治 .
中国专利 :CN109216211A ,2019-01-15
[2]
切割/芯片接合薄膜、切割/芯片接合薄膜的制造方法以及半导体装置的制造方法 [P]. 
村田修平 ;
松村健 ;
柳雄一朗 .
中国专利 :CN102408845A ,2012-04-11
[3]
芯片接合薄膜、切割芯片接合薄膜及半导体装置的制造方法 [P]. 
福井章洋 ;
大西谦司 ;
宍户雄一郎 ;
木村雄大 ;
高本尚英 .
中国专利 :CN107434955B ,2017-12-05
[4]
切割芯片接合薄膜和半导体装置的制造方法 [P]. 
福井章洋 ;
角野雅俊 ;
大西谦司 .
日本专利 :CN118222201A ,2024-06-21
[5]
切割芯片接合薄膜及半导体装置的制造方法 [P]. 
福井章洋 ;
杉村敏正 ;
角野雅俊 ;
大西谦司 ;
木村雄大 .
中国专利 :CN115368842A ,2022-11-22
[6]
切割带、切割芯片接合薄膜、及半导体装置的制造方法 [P]. 
小坂尚史 ;
靏泽俊浩 ;
三木香 ;
木村雄大 ;
大西谦司 ;
高本尚英 ;
杉村敏正 ;
赤泽光治 .
中国专利 :CN109207077A ,2019-01-15
[7]
切割芯片接合薄膜、半导体装置的制造方法及半导体装置 [P]. 
大西谦司 ;
三隅贞仁 ;
宍户雄一郎 ;
木村雄大 .
日本专利 :CN106189897B ,2025-04-04
[8]
切割芯片接合薄膜、半导体装置的制造方法及半导体装置 [P]. 
大西谦司 ;
三隅贞仁 ;
宍户雄一郎 ;
木村雄大 .
中国专利 :CN106189897A ,2016-12-07
[9]
切割芯片接合薄膜以及半导体装置制造方法 [P]. 
大西谦司 ;
宍户雄一郎 ;
木村雄大 ;
杉村敏正 ;
福井章洋 .
中国专利 :CN110527444A ,2019-12-03
[10]
热固型芯片接合薄膜、切割/芯片接合薄膜及半导体装置的制造方法 [P]. 
宍户雄一郎 ;
三隅贞仁 ;
大西谦司 .
中国专利 :CN104946153A ,2015-09-30