一种改善硅片边缘翘曲的方法

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专利类型
发明
申请号
CN202010698929.1
申请日
2020-07-20
公开(公告)号
CN111872780B
公开(公告)日
2020-11-03
发明(设计)人
卢运增 贺贤汉 洪漪 丁晓建
申请人
申请人地址
200444 上海市宝山区山连路181号1幢
IPC主分类号
B24B906
IPC分类号
B24B3708
代理机构
上海申浩律师事务所 31280
代理人
陆叶
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种改善硅片边缘翘曲的切割方法 [P]. 
卢运增 ;
贺贤汉 ;
丁晓健 .
中国专利 :CN109227975B ,2019-01-18
[2]
一种改善两层薄膜硅片翘曲的方法 [P]. 
马爱 .
中国专利 :CN119517731A ,2025-02-25
[3]
一种改善硅片翘曲度的方法 [P]. 
焦芬芬 .
中国专利 :CN120591749A ,2025-09-05
[4]
一种改善硅片边缘抛光质量的方法 [P]. 
宋同景 ;
路一辰 ;
赵新新 ;
钟耕杭 ;
李磊 ;
张清洋 ;
肖清华 ;
闫志瑞 .
中国专利 :CN118866655A ,2024-10-29
[5]
改善硅片边缘金属的方法 [P]. 
陈坚 .
中国专利 :CN119608644A ,2025-03-14
[6]
改善晶圆翘曲的方法 [P]. 
周爽 ;
吕穿江 ;
王晓日 ;
焦鹏 ;
禹楼飞 .
中国专利 :CN115084012A ,2022-09-20
[7]
一种减小硅片多线切割时硅片翘曲的方法 [P]. 
张松江 ;
贺贤汉 ;
丁晓健 ;
吉远君 .
中国专利 :CN108162213A ,2018-06-15
[8]
一种改善翘曲的基板垫块 [P]. 
罗天佐 ;
费伟华 ;
郑伟峰 ;
刘雅文 .
中国专利 :CN221226197U ,2024-06-25
[9]
一种改善半导体晶片翘曲的方法 [P]. 
陈玉文 ;
张亮 ;
李磊 ;
胡友存 ;
姬峰 .
中国专利 :CN102420176A ,2012-04-18
[10]
一种改善硅片多晶硅薄膜翘曲的化学气相沉积方法 [P]. 
马爱 ;
贺贤汉 ;
李传玉 .
中国专利 :CN109300777A ,2019-02-01