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一种用于钙铁分析仪的X射线管
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201922221348.4
申请日
:
2019-12-09
公开(公告)号
:
CN210668259U
公开(公告)日
:
2020-06-02
发明(设计)人
:
李舒
李智文
申请人
:
申请人地址
:
201802 上海市嘉定区南翔镇顺达路300弄40号
IPC主分类号
:
H01J3508
IPC分类号
:
代理机构
:
上海领洋专利代理事务所(普通合伙) 31292
代理人
:
罗晓鹏
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-06-02
授权
授权
共 50 条
[1]
钙铁分析仪
[P].
徐晓东
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徐晓东
;
倪虹
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倪虹
.
中国专利
:CN2781362Y
,2006-05-17
[2]
一种X射线分析仪
[P].
郑华
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郑华
;
孙一帆
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孙一帆
.
中国专利
:CN214150493U
,2021-09-07
[3]
X射线荧光分析仪
[P].
苏显月
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
苏显月
;
闫晓晖
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
闫晓晖
;
拉海忠
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
拉海忠
;
王莉菲
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
王莉菲
;
刘慧娟
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
刘慧娟
.
中国专利
:CN222994369U
,2025-06-17
[4]
X射线离线分析仪
[P].
周俊
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周俊
;
薄莉
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薄莉
.
中国专利
:CN211426337U
,2020-09-04
[5]
用于分析塑料的X射线分析仪
[P].
长谷川清
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长谷川清
.
中国专利
:CN1624463A
,2005-06-08
[6]
X射线分析仪
[P].
长谷川清
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长谷川清
.
中国专利
:CN1435686A
,2003-08-13
[7]
X射线分析仪
[P].
岛充子
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岛充子
;
坪冈徹
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坪冈徹
.
中国专利
:CN305011690S
,2019-01-22
[8]
X射线分析仪
[P].
杉江智哉
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杉江智哉
.
中国专利
:CN306020606S
,2020-08-28
[9]
X射线管以及用于X射线管的陶瓷元件
[P].
李金融
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李金融
;
胡银富
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胡银富
.
中国专利
:CN209880534U
,2019-12-31
[10]
一种X射线荧光分析仪
[P].
颜一鸣
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颜一鸣
;
丁训良
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丁训良
;
赫业军
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赫业军
.
中国专利
:CN2237241Y
,1996-10-09
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