一种芯片生产用测试装置

被引：0

申请号：

CN202122933668.X

申请日：

2021-11-26

公开(公告)号：

CN216310205U

公开(公告)日：

2022-04-15

发明(设计)人：

舒沁

申请人：

申请人地址：

223500 江苏省连云港市灌南县经济开发区光电产业园4号车间

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R102 G01R104

代理机构：

北京众达德权知识产权代理有限公司 11570

代理人：

田丹

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-15	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片生产用测试装置 [P].

熊学飞 ;

张磊 .

中国专利 :CN222734243U ,2025-04-08

[2]

一种芯片生产用的测试装置 [P].

卢景璇 .

中国专利 :CN113441419A ,2021-09-28

[3]

一种芯片测试装置 [P].

刘强 ;

王宇诚 .

中国专利 :CN222646890U ,2025-03-21

[4]

一种芯片用测试装置 [P].

刘航兵 ;

卓建超 ;

万玉飞 ;

刘小恒 .

中国专利 :CN212483776U ,2021-02-05

[5]

一种MOS芯片生产用测试装置 [P].

黄昌民 ;

张志奇 ;

何飞 ;

黄国荣 .

中国专利 :CN114937617A ,2022-08-23

[6]

一种芯片检测用测试装置 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN109375090A ,2019-02-22

[7]

一种芯片用温度测试装置 [P].

仇海峰 .

中国专利 :CN214568895U ,2021-11-02

[8]

一种用于芯片生产的测试装置 [P].

沈晓亮 ;

韩泉栋 ;

高兴龙 ;

吕笑天 ;

沈彩平 .

中国专利 :CN211359890U ,2020-08-28

[9]

一种芯片测试装置 [P].

余永庆 ;

唐章海 ;

王伟 .

中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18

[10]

一种芯片测试装置 [P].

嵇文艳 ;

陈静 ;

谢运雨 .

中国专利 :CN223139774U ,2025-07-22

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