学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种芯片用温度测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202120804856.X
申请日
:
2021-04-20
公开(公告)号
:
CN214568895U
公开(公告)日
:
2021-11-02
发明(设计)人
:
仇海峰
申请人
:
申请人地址
:
210000 江苏省南京市建邺区所街116号711室
IPC主分类号
:
B65G4774
IPC分类号
:
G01K108
G01K1143
代理机构
:
南京禾易知识产权代理有限公司 32320
代理人
:
宋萍
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-02
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片温度测试装置
[P].
杨建设
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
杨建设
;
张雅凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
张雅凯
.
中国专利
:CN222028370U
,2024-11-19
[2]
芯片温度测试装置
[P].
杨建设
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
杨建设
;
张雅凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
张雅凯
.
中国专利
:CN222653075U
,2025-03-21
[3]
一种芯片温度测试装置
[P].
何杨石
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞天盾精工机械有限公司
东莞天盾精工机械有限公司
何杨石
;
陈虎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞天盾精工机械有限公司
东莞天盾精工机械有限公司
陈虎
.
中国专利
:CN222393690U
,2025-01-24
[4]
一种芯片生产用测试装置
[P].
舒沁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
舒沁
.
中国专利
:CN216310205U
,2022-04-15
[5]
一种芯片生产用测试装置
[P].
熊学飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州锐杰微科技集团有限公司
苏州锐杰微科技集团有限公司
熊学飞
;
张磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州锐杰微科技集团有限公司
苏州锐杰微科技集团有限公司
张磊
.
中国专利
:CN222734243U
,2025-04-08
[6]
一种芯片测试装置
[P].
孔凡平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孔凡平
;
杨京
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨京
;
谢棋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢棋
.
中国专利
:CN210720643U
,2020-06-09
[7]
一种芯片用测试装置
[P].
刘航兵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘航兵
;
卓建超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卓建超
;
万玉飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
万玉飞
;
刘小恒
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘小恒
.
中国专利
:CN212483776U
,2021-02-05
[8]
一种片式电阻用温度测试装置
[P].
丁有群
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丁有群
.
中国专利
:CN218014238U
,2022-12-13
[9]
一种膜片车间用温度测试装置
[P].
武强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
武强
.
中国专利
:CN212458710U
,2021-02-02
[10]
一种芯片温度测试装置
[P].
陈建光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈建光
;
陈宗廷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈宗廷
;
李斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李斌
.
中国专利
:CN215811330U
,2022-02-11
←
1
2
3
4
5
→