一种芯片测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201921193550.4
申请日
2019-07-26
公开(公告)号
CN210720643U
公开(公告)日
2020-06-09
发明(设计)人
孔凡平 杨京 谢棋
申请人
申请人地址
361000 福建省厦门市翔安区内岗中路1号之2
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
厦门律嘉知识产权代理事务所(普通合伙) 35225
代理人
张辉;李增进
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种LPDDR芯片测试装置 [P]. 
张亚伟 ;
李婷婷 .
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[2]
一种裸芯片测试夹具和一种裸芯片测试装置 [P]. 
汪佳娣 ;
刘贵亚 ;
丁静萍 .
中国专利 :CN210626525U ,2020-05-26
[3]
一种芯片测试装置 [P]. 
余永庆 ;
唐章海 ;
王伟 .
中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18
[4]
一种芯片测试装置 [P]. 
冯国淇 ;
覃宗鹏 .
中国专利 :CN221993589U ,2024-11-12
[5]
一种芯片测试装置 [P]. 
刘晨 .
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[6]
一种芯片测试装置 [P]. 
何士龙 .
中国专利 :CN213398652U ,2021-06-08
[7]
一种芯片测试装置 [P]. 
姜磊 ;
刘敬伟 ;
仝飞 .
中国专利 :CN209728113U ,2019-12-03
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
李明 ;
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边海波 .
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[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
刘净月 ;
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[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
李克贵 ;
何建军 ;
杨飞瑶 .
中国专利 :CN222762201U ,2025-04-15