共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种芯片测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202421750741.7
申请日：
2024-07-23
公开(公告)号：
CN223139774U
公开(公告)日：
2025-07-22
发明(设计)人：
嵇文艳
陈静
谢运雨
申请人：
江苏瑞芯微电子有限公司
申请人地址：
225699 江苏省扬州市高邮经济开发区波司登大道南侧3号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/02
代理机构：
深圳市共赋知识产权代理事务所(普通合伙) 44897
代理人：
张国庆
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-07-22 | 授权 | 授权 |