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一种芯片测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202223312938.6
申请日：
2022-12-10
公开(公告)号：
CN220305440U
公开(公告)日：
2024-01-05
发明(设计)人：
曹维
申请人：
苏州工业园区凯众通微电子技术有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区新发路1号一号楼三楼317室
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/02
G01R1/04
代理机构：
哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109
代理人：
高倩
法律状态：
授权
国省代码：
江苏省
苏州市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-01-05 | 授权 | 授权 |
| 2024-04-16 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移IPC(主分类):G01R 31/28登记生效日:20240329变更事项:专利权人变更前权利人:田际伟变更后权利人:上海矽弼半导体科技有限公司变更事项:国家或地区变更前权利人:中国变更后权利人:中国变更事项:地址变更前权利人:238399 安徽省芜湖市无为县陡沟镇双圩行政村田一自然村06号变更后权利人:201100 上海市闵行区沪松公路450号2层 |
| 2024-02-27 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移IPC(主分类):G01R 31/28登记生效日:20240205变更事项:专利权人变更前权利人:苏州工业园区凯众通微电子技术有限公司变更后权利人:田际伟变更事项:国家或地区变更前权利人:中国变更后权利人:中国变更事项:地址变更前权利人:215000 江苏省苏州市自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区新发路1号一号楼三楼317室变更后权利人:238399 安徽省芜湖市无为县陡沟镇双圩行政村田一自然村06号 |