一种多功能芯片测试装置

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申请号
CN202123188700.2
申请日
2021-12-17
公开(公告)号
CN216979134U
公开(公告)日
2022-07-15
发明(设计)人
代彬 姜豪
申请人
申请人地址
214135 江苏省无锡市新吴区震泽路18-2无锡软件园二期狮子座A-1层-1室
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3128
代理机构
苏州吴韵知识产权代理事务所(普通合伙) 32364
代理人
王铭陆
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种多功能芯片测试装置 [P]. 
殷凌一 .
中国专利 :CN223308254U ,2025-09-05
[2]
一种多功能芯片测试装置 [P]. 
刘福瑜 ;
林辉敬 .
中国专利 :CN114839511A ,2022-08-02
[3]
一种芯片测试装置 [P]. 
曹维 .
中国专利 :CN220305440U ,2024-01-05
[4]
一种多功能继电器测试装置 [P]. 
刘竞志 ;
龚超成 ;
姜建东 ;
吴经光 ;
郑本涛 .
中国专利 :CN223155164U ,2025-07-25
[5]
一种多功能线材测试装置 [P]. 
赵冰兴 .
中国专利 :CN208092172U ,2018-11-13
[6]
一种芯片功能测试装置 [P]. 
郑江云 .
中国专利 :CN212646894U ,2021-03-02
[7]
一种芯片功能测试装置 [P]. 
任根军 ;
梁宏玮 ;
谢晓明 .
中国专利 :CN220367379U ,2024-01-19
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
冯国淇 ;
覃宗鹏 .
中国专利 :CN221993589U ,2024-11-12
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
嵇文艳 ;
陈静 ;
谢运雨 .
中国专利 :CN223139774U ,2025-07-22
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
李关辉 ;
李清龙 ;
李永华 ;
吴庆全 .
中国专利 :CN221124785U ,2024-06-11