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一种多功能芯片测试装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202422671540.4
申请日：
2024-11-04
公开(公告)号：
CN223308254U
公开(公告)日：
2025-09-05
发明(设计)人：
殷凌一
申请人：
宁波芯测电子科技有限公司
申请人地址：
315000 浙江省宁波市鄞州区瞻岐镇南二村振兴路162号一楼
IPC主分类号：
G01R1/04
IPC分类号：
G01R31/28
代理机构：
杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241
代理人：
唐迅
法律状态：
授权
国省代码：
浙江省 宁波市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-05 授权 授权
共 50 条
[1]
一种多功能芯片测试装置 [P]. 
代彬 ;
姜豪 .
中国专利 :CN216979134U ,2022-07-15
[2]
一种多功能芯片测试装置 [P]. 
刘福瑜 ;
林辉敬 .
中国专利 :CN114839511A ,2022-08-02
[3]
一种多功能测试装置 [P]. 
胡建浩 .
中国专利 :CN220419046U ,2024-01-30
[4]
一种多功能维修测试装置 [P]. 
孙宇鹏 .
中国专利 :CN220438404U ,2024-02-02
[5]
一种多功能SIC测试装置 [P]. 
张永健 ;
李耀武 .
中国专利 :CN214539877U ,2021-10-29
[6]
LPDDR芯片测试装置 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘冲 .
中国专利 :CN214068354U ,2021-08-27
[7]
一种芯片功能测试装置 [P]. 
郑江云 .
中国专利 :CN212646894U ,2021-03-02
[8]
一种芯片功能测试装置 [P]. 
任根军 ;
梁宏玮 ;
谢晓明 .
中国专利 :CN220367379U ,2024-01-19
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
刘晨 .
中国专利 :CN215986374U ,2022-03-08
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
何士龙 .
中国专利 :CN213398652U ,2021-06-08
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