一种精密芯片检测设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110989373.6

申请日：

2021-08-26

公开(公告)号：

CN113567467A

公开(公告)日：

2021-10-29

发明(设计)人：

晁阳升蔡浪滔王宇峰梁永鑫

申请人：

申请人地址：

410000 湖南省长沙市高新开发区岳麓西大道588号芯城科技园2栋7楼7011房

IPC主分类号：

G01N2195

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙) 11613

代理人：

张珍珍;李丽敏

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-10-29	公开	公开
2021-11-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/95 申请日:20210826

共 50 条

[1]

一种双通道芯片检测设备 [P].

晁阳升 ;

蔡浪滔 ;

王宇峰 ;

梁永鑫 .

中国专利 :CN216213270U ,2022-04-05

[2]

一种芯片检测设备 [P].

张承禹 ;

龙际虎 ;

盛积志 .

中国专利 :CN220574065U ,2024-03-12

[3]

一种芯片检测设备 [P].

晁阳升 ;

王珲荣 ;

梁永鑫 .

中国专利 :CN113466255B ,2021-10-01

[4]

检测芯片、检测设备、检测系统 [P].

张湛 .

中国专利 :CN212410623U ,2021-01-26

[5]

一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备 [P].

邹巍 ;

庄彤 ;

欧阳衡 ;

钟建平 ;

刘兵生 ;

王志威 .

中国专利 :CN117538258A ,2024-02-09

[6]

一种芯片加工生产用芯片检测设备 [P].

龙天瑞 ;

华传健 ;

陈奇志 .

中国专利 :CN113990787A ,2022-01-28

[7]

检测芯片、检测设备、检测系统和检测方法 [P].

张湛 .

中国专利 :CN112557684B ,2025-06-13

[8]

检测芯片、检测设备、检测系统和检测方法 [P].

张湛 .

中国专利 :CN112557684A ,2021-03-26

[9]

一种精密排种检测装置和检测设备 [P].

易善平 ;

陆静 ;

李贤 ;

孙世雯 ;

薛宁 ;

苏启 .

中国专利 :CN207300861U ,2018-05-01

[10]

一种精密检测设备 [P].

李和军 .

中国专利 :CN206291870U ,2017-06-30

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