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半导体结构及半导体结构形成方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910131889.X
申请日
:
2019-02-22
公开(公告)号
:
CN110444482B
公开(公告)日
:
2019-11-12
发明(设计)人
:
余振华
苏安治
吴集锡
叶德强
吴仓聚
邱文智
叶名世
申请人
:
申请人地址
:
中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
IPC主分类号
:
H01L2160
IPC分类号
:
H01L2156
H01L23488
代理机构
:
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人
:
康艳青;姚开丽
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-12-06
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/60 申请日:20190222
2019-11-12
公开
公开
2022-03-15
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体结构及半导体结构形成方法
[P].
请求不公布姓名
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市鹏芯微集成电路制造有限公司
深圳市鹏芯微集成电路制造有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN118486692A
,2024-08-13
[2]
半导体结构及半导体结构形成方法
[P].
陶大伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陶大伟
.
中国专利
:CN112490244A
,2021-03-12
[3]
半导体结构形成方法及半导体结构
[P].
卢仁祥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
卢仁祥
;
蔡宗翰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
蔡宗翰
;
张世勳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
张世勳
.
中国专利
:CN110610989B
,2024-10-29
[4]
半导体结构形成方法以及半导体结构
[P].
卢经文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
卢经文
.
中国专利
:CN114256153B
,2024-06-07
[5]
半导体结构形成方法以及半导体结构
[P].
卢经文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卢经文
.
中国专利
:CN114256153A
,2022-03-29
[6]
半导体结构形成方法及半导体器件
[P].
张志伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张志伟
.
中国专利
:CN111696941A
,2020-09-22
[7]
半导体结构形成方法及半导体器件
[P].
张志伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
张志伟
.
中国专利
:CN111696941B
,2024-12-06
[8]
半导体结构形成方法
[P].
刘中元
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘中元
;
赵鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵鹏
;
马孝田
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马孝田
.
中国专利
:CN111725068A
,2020-09-29
[9]
半导体结构形成方法
[P].
崔明
论文数:
0
引用数:
0
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0
崔明
.
中国专利
:CN114613675A
,2022-06-10
[10]
半导体结构形成方法
[P].
卢仁祥
论文数:
0
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0
卢仁祥
;
蔡宗翰
论文数:
0
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0
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蔡宗翰
;
张世勳
论文数:
0
引用数:
0
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0
张世勳
.
中国专利
:CN110610989A
,2019-12-24
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