检测器件及其制造方法、微电子元件的检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011044273.8

申请日：

2020-09-28

公开(公告)号：

CN112180228A

公开(公告)日：

2021-01-05

发明(设计)人：

张立震

申请人：

申请人地址：

100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R3128 G01J144 G01J142

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

许静;张博

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-05	公开	公开
2021-01-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20200928

共 50 条

[1]

检测器件及其制造方法、微电子元件的检测方法 [P].

张立震 .

中国专利 :CN112180228B ,2024-08-13

[2]

微电子元件及其制造方法 [P].

李文钦 .

中国专利 :CN1738049A ,2006-02-22

[3]

制造微电子元件的方法 [P].

张发源 ;

赖宗沐 ;

梁凯智 ;

吴华书 ;

贺庆雄 ;

萧国裕 ;

张浚威 ;

刘铭棋 ;

谢元智 ;

蔡嘉雄 ;

沈育民 ;

白景中 .

中国专利 :CN100590789C ,2008-08-20

[4]

微电子元件承载体及其制造方法 [P].

J·D·林特 ;

N·沃格特利 .

中国专利 :CN1495814A ,2004-05-12

[5]

微电子元件承载体及其制造方法 [P].

J·D·林特 ;

N·沃格特利 .

中国专利 :CN1196151C ,2001-01-17

[6]

检测器件及其检测方法 [P].

章凯迪 ;

林柏全 ;

蒋慧慧 ;

杨璐宁 ;

李伟 ;

白云飞 ;

贾振宇 ;

席克瑞 ;

秦锋 .

中国专利 :CN114324538A ,2022-04-12

[7]

检测器件及其检测方法 [P].

章凯迪 ;

林柏全 ;

蒋慧慧 ;

杨璐宁 ;

李伟 ;

白云飞 ;

贾振宇 ;

席克瑞 ;

秦锋 .

中国专利 :CN114324538B ,2024-06-07

[8]

检测器件制造方法、检测器件和检测系统 [P].

藤吉健太郎 ;

望月千织 ;

渡边实 ;

大藤将人 ;

横山启吾 ;

川锅润 ;

和山弘 .

中国专利 :CN102810548B ,2012-12-05

[9]

检测器件制造方法、检测器件和检测系统 [P].

藤吉健太郎 ;

望月千织 ;

渡边实 ;

大藤将人 ;

横山启吾 ;

川锅润 ;

和山弘 .

中国专利 :CN102810547A ,2012-12-05

[10]

光检测器件及其制造方法 [P].

朴昌泳 ;

李相勋 .

中国专利 :CN114361271A ,2022-04-15

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