微电子元件及其制造方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200510051002.4

申请日：

2005-02-25

公开(公告)号：

CN1738049A

公开(公告)日：

2006-02-22

发明(设计)人：

李文钦

申请人：

申请人地址：

台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路8号

IPC主分类号：

H01L27092

IPC分类号：

H01L2978 H01L218238 H01L21336

代理机构：

北京中原华和知识产权代理有限责任公司

代理人：

寿宁;张华辉

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2006-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效
2006-02-22	公开	公开
2008-10-15	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回

共 50 条

[1]

制造微电子元件的方法 [P].

张发源 ;

赖宗沐 ;

梁凯智 ;

吴华书 ;

贺庆雄 ;

萧国裕 ;

张浚威 ;

刘铭棋 ;

谢元智 ;

蔡嘉雄 ;

沈育民 ;

白景中 .

中国专利 :CN100590789C ,2008-08-20

[2]

微电子元件承载体及其制造方法 [P].

J·D·林特 ;

N·沃格特利 .

中国专利 :CN1495814A ,2004-05-12

[3]

微电子元件承载体及其制造方法 [P].

J·D·林特 ;

N·沃格特利 .

中国专利 :CN1196151C ,2001-01-17

[4]

集成电路元件与晶体管元件以及微电子元件及其制造方法 [P].

林俊杰 .

中国专利 :CN100349303C ,2005-07-27

[5]

具有微电子元件来冷却管芯的微电子组件及其制造方法 [P].

施里拉姆·拉马纳森 ;

格雷戈里·克莱斯勒 ;

史蒂文·托尔 .

中国专利 :CN1914725B ,2007-02-14

[6]

检测器件及其制造方法、微电子元件的检测方法 [P].

张立震 .

中国专利 :CN112180228B ,2024-08-13

[7]

检测器件及其制造方法、微电子元件的检测方法 [P].

张立震 .

中国专利 :CN112180228A ,2021-01-05

[8]

微电子元件拆解设备 [P].

刘家宏 ;

李窑旗 ;

郭梦辉 ;

李军亮 ;

高子原 ;

杜大鹏 ;

郭东亮 .

中国专利 :CN210789568U ,2020-06-19

[9]

垂直的微电子元件以及相应的制造方法 [P].

C.舍林 ;

W.达夫斯 .

中国专利 :CN103681836A ,2014-03-26

[10]

微电子元件框架干燥装置 [P].

沈磊 ;

刘同华 .

中国专利 :CN201811547U ,2011-04-27

← 1 2 3 4 5 →