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晶圆测试用真空探针台结构
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201820583682.7
申请日
:
2018-04-23
公开(公告)号
:
CN208224434U
公开(公告)日
:
2018-12-11
发明(设计)人
:
高晨强
沈小龙
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市新区竹园路10号
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R102
代理机构
:
苏州市新苏专利事务所有限公司 32221
代理人
:
朱亦倩
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-12-11
授权
授权
共 50 条
[1]
晶圆测试用探针台
[P].
孙军
论文数:
0
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0
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0
孙军
;
潘亮良
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潘亮良
;
徐志源
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徐志源
.
中国专利
:CN113970690A
,2022-01-25
[2]
晶圆测试用探针台
[P].
孙军
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0
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机构:
深圳市伽蓝特科技有限公司
深圳市伽蓝特科技有限公司
孙军
;
潘亮良
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机构:
深圳市伽蓝特科技有限公司
深圳市伽蓝特科技有限公司
潘亮良
;
徐志源
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0
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0
机构:
深圳市伽蓝特科技有限公司
深圳市伽蓝特科技有限公司
徐志源
.
中国专利
:CN113970690B
,2024-11-05
[3]
晶圆测试用探针台及探针机
[P].
王伟谦
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机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
王伟谦
;
杨应俊
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机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
杨应俊
;
吴贵阳
论文数:
0
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机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
吴贵阳
.
中国专利
:CN118033368A
,2024-05-14
[4]
一种晶圆测试用的探针台
[P].
阎文豪
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阎文豪
;
王建雄
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王建雄
.
中国专利
:CN217901939U
,2022-11-25
[5]
晶圆测试用探针针座
[P].
李景均
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机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
李景均
.
中国专利
:CN309594189S
,2025-11-11
[6]
晶圆测试用探针卡支架
[P].
金大敬
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机构:
韩商联测股份有限公司
韩商联测股份有限公司
金大敬
.
韩国专利
:CN120009697A
,2025-05-16
[7]
晶圆测试用探针针座
[P].
颜建武
论文数:
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0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
颜建武
.
中国专利
:CN309638270S
,2025-11-28
[8]
晶圆测试用探针针座
[P].
颜建武
论文数:
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机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
颜建武
.
中国专利
:CN309594190S
,2025-11-11
[9]
一种晶圆测试用探针台升降机构
[P].
顾卫民
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顾卫民
;
吴熙文
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吴熙文
;
吴卓鸿
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吴卓鸿
;
张梅
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张梅
.
中国专利
:CN212810267U
,2021-03-26
[10]
晶圆测试用晶圆承载结构
[P].
李道东
论文数:
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引用数:
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机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
李道东
;
田程
论文数:
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机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
田程
;
刘达开
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机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
刘达开
.
中国专利
:CN119181671A
,2024-12-24
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