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晶圆测试用探针台
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010727656.9
申请日
:
2020-07-23
公开(公告)号
:
CN113970690A
公开(公告)日
:
2022-01-25
发明(设计)人
:
孙军
潘亮良
徐志源
申请人
:
申请人地址
:
214000 江苏省无锡市新吴区珠江路49-1号
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-25
公开
公开
2022-02-15
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200723
共 50 条
[1]
晶圆测试用探针台
[P].
孙军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市伽蓝特科技有限公司
深圳市伽蓝特科技有限公司
孙军
;
潘亮良
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市伽蓝特科技有限公司
深圳市伽蓝特科技有限公司
潘亮良
;
徐志源
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市伽蓝特科技有限公司
深圳市伽蓝特科技有限公司
徐志源
.
中国专利
:CN113970690B
,2024-11-05
[2]
晶圆测试用探针台及探针机
[P].
王伟谦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
王伟谦
;
杨应俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
杨应俊
;
吴贵阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
吴贵阳
.
中国专利
:CN118033368A
,2024-05-14
[3]
晶圆测试用真空探针台结构
[P].
高晨强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高晨强
;
沈小龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
沈小龙
.
中国专利
:CN208224434U
,2018-12-11
[4]
一种晶圆测试用的探针台
[P].
阎文豪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
阎文豪
;
王建雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王建雄
.
中国专利
:CN217901939U
,2022-11-25
[5]
探针台晶圆测试设备以及晶圆测试方法
[P].
马松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马松
.
中国专利
:CN102749570A
,2012-10-24
[6]
晶圆测试用探针针座
[P].
李景均
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
李景均
.
中国专利
:CN309594189S
,2025-11-11
[7]
晶圆测试用探针卡支架
[P].
金大敬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
韩商联测股份有限公司
韩商联测股份有限公司
金大敬
.
韩国专利
:CN120009697A
,2025-05-16
[8]
晶圆测试用探针针座
[P].
颜建武
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
颜建武
.
中国专利
:CN309638270S
,2025-11-28
[9]
晶圆测试用探针针座
[P].
颜建武
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
颜建武
.
中国专利
:CN309594190S
,2025-11-11
[10]
用于晶圆测试的探针台
[P].
邬刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邬刚
;
凌云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
凌云
.
中国专利
:CN112255528A
,2021-01-22
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