一种SiC减薄方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510814833.6
申请日
2015-11-20
公开(公告)号
CN105470122A
公开(公告)日
2016-04-06
发明(设计)人
闫未霞
申请人
申请人地址
610000 四川省成都市双流县西南航空港经济开发区物联网产业园内
IPC主分类号
H01L21304
IPC分类号
H01L21306
代理机构
成都华风专利事务所(普通合伙) 51223
代理人
胡川
法律状态
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共 50 条
[1]
SiC衬底的减薄方法 [P]. 
魏珂 ;
黄俊 ;
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[2]
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[3]
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[4]
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[5]
一种大尺寸SiC晶片的减薄加工方法 [P]. 
赵新田 ;
王洪 ;
张昊翔 .
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[6]
一种抛光减薄装置和抛光减薄方法 [P]. 
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[7]
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[8]
一种硅片减薄方法 [P]. 
王思亮 ;
胡强 ;
张世勇 ;
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[9]
晶片的减薄方法 [P]. 
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中国专利 :CN102820218B ,2012-12-12
[10]
一种对碳化硅晶片进行减薄的方法 [P]. 
汪宁 ;
陈晓娟 ;
罗卫军 ;
庞磊 ;
刘新宇 .
中国专利 :CN102214565A ,2011-10-12