半导体装置及内连线的制造方法

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专利类型
发明
申请号
CN200510123427.1
申请日
2005-11-18
公开(公告)号
CN1790666A
公开(公告)日
2006-06-21
发明(设计)人
庄学理 余振华 吕伯雄 吴斯安
申请人
申请人地址
中国台湾新竹市新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
IPC主分类号
H01L21768
IPC分类号
H01L23522
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所
代理人
刘新宇
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
制造半导体装置导线的方法及内连线结构 [P]. 
骆统 ;
郑明达 ;
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[2]
内连线结构及其制造方法、半导体装置 [P]. 
石健学 ;
蔡明兴 ;
苏鸿文 .
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[3]
半导体装置的制造方法及半导体装置 [P]. 
河村圭子 ;
一关健太郎 ;
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[4]
半导体金属内连线的制造方法 [P]. 
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[5]
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[6]
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曹荣志 ;
陈科维 ;
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[7]
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[8]
半导体装置及制造半导体装置的方法 [P]. 
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[9]
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齐藤太志郎 ;
山本大辅 ;
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[10]
半导体装置及半导体装置的制造方法 [P]. 
益本宽之 .
中国专利 :CN111816633A ,2020-10-23