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半导体金属内连线的制造方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN01116180.9
申请日
:
2001-05-25
公开(公告)号
:
CN1388573A
公开(公告)日
:
2003-01-01
发明(设计)人
:
欧阳允亮
黄昭元
申请人
:
申请人地址
:
台湾省新竹科技园区
IPC主分类号
:
H01L21768
IPC分类号
:
H01L21283
H01L2131
H01L213205
代理机构
:
北京三友知识产权代理有限公司
代理人
:
刘朝华
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2003-03-26
实质审查的生效
实质审查的生效
2001-10-03
实质审查的生效
实质审查的生效
2004-07-28
发明专利申请公布后的视为撤回
发明专利申请公布后的视为撤回
共 50 条
[1]
形成半导体金属内连线的方法
[P].
刘豪杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘豪杰
.
中国专利
:CN1385891A
,2002-12-18
[2]
半导体元件的内连线制造方法
[P].
李韦坤
论文数:
0
引用数:
0
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0
李韦坤
.
中国专利
:CN110299319A
,2019-10-01
[3]
半导体装置及内连线的制造方法
[P].
庄学理
论文数:
0
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0
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0
庄学理
;
余振华
论文数:
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余振华
;
吕伯雄
论文数:
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0
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0
吕伯雄
;
吴斯安
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴斯安
.
中国专利
:CN1790666A
,2006-06-21
[4]
半导体元件避免钨插塞损失阻挡层的制造方法
[P].
何文郁
论文数:
0
引用数:
0
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何文郁
;
李森楠
论文数:
0
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李森楠
;
谢松均
论文数:
0
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0
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谢松均
;
陈慧伦
论文数:
0
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陈慧伦
.
中国专利
:CN1233846A
,1999-11-03
[5]
半导体装置的制造方法及半导体装置
[P].
河村圭子
论文数:
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机构:
株式会社东芝
株式会社东芝
河村圭子
;
一关健太郎
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机构:
株式会社东芝
株式会社东芝
一关健太郎
;
西胁达也
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
株式会社东芝
株式会社东芝
西胁达也
.
日本专利
:CN120825974A
,2025-10-21
[6]
半导体结构的制造方法和半导体结构
[P].
杨蒙蒙
论文数:
0
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杨蒙蒙
;
白杰
论文数:
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白杰
.
中国专利
:CN114695097A
,2022-07-01
[7]
半导体结构的制造方法和半导体结构
[P].
杨蒙蒙
论文数:
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
杨蒙蒙
;
白杰
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引用数:
0
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
白杰
.
中国专利
:CN114695097B
,2025-04-04
[8]
半导体装置的制造方法
[P].
山崎舜平
论文数:
0
引用数:
0
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0
山崎舜平
.
中国专利
:CN101447412A
,2009-06-03
[9]
金属内连线的制造方法
[P].
陈逸男
论文数:
0
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0
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0
陈逸男
;
陈宽谋
论文数:
0
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0
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陈宽谋
.
中国专利
:CN1267985C
,2005-01-19
[10]
金属内连线的制造方法
[P].
包天一
论文数:
0
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包天一
;
黎丽萍
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黎丽萍
;
章勋明
论文数:
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引用数:
0
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章勋明
.
中国专利
:CN1243378C
,2004-03-31
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