二维层状材料异质结堆叠序列的检测方法及光谱测量系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910184878.8
申请日
2019-03-12
公开(公告)号
CN110082297A
公开(公告)日
2019-08-02
发明(设计)人
时佳 杜文娜 刘新风
申请人
申请人地址
100190 北京市海淀区中关村北一条11号
IPC主分类号
G01N2125
IPC分类号
代理机构
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人
王庆龙;苗晓静
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
基于温度依赖性拉曼光谱测量二维层状材料热导率的方法 [P]. 
李亮 ;
檀朝阳 ;
陈家旺 ;
陈利杰 .
中国专利 :CN111693510A ,2020-09-22
[2]
二维异质结材料界面缺陷检测方法及装置 [P]. 
刘大猛 ;
刘欢 ;
雒建斌 .
中国专利 :CN113125363B ,2021-07-16
[3]
一种二维光谱测量装置 [P]. 
潘建根 .
中国专利 :CN201780164U ,2011-03-30
[4]
一种二维光谱测量装置 [P]. 
潘建根 .
中国专利 :CN101813520A ,2010-08-25
[5]
一种二维光谱仪光谱测量方法 [P]. 
李燕 ;
潘建根 .
中国专利 :CN119935310A ,2025-05-06
[6]
光谱测量系统及测量方法 [P]. 
戴琼海 ;
高彬 ;
张晶 ;
邵航 ;
范静涛 .
中国专利 :CN106841118A ,2017-06-13
[7]
半导体材料的光谱测量系统、方法及装置 [P]. 
张璐 ;
展永政 ;
林宁亚 ;
张青 .
中国专利 :CN117007561B ,2024-02-02
[8]
二维材料异质结热电器件及其制备方法 [P]. 
易典 ;
王荣福 .
中国专利 :CN114530546A ,2022-05-24
[9]
一种二维相关LIBS光谱测量方法、系统及装置 [P]. 
董大明 ;
赵贤德 ;
王娜 ;
田宏武 ;
邢振 ;
李传霞 .
中国专利 :CN111257305A ,2020-06-09
[10]
基于全反射镜的二维光谱测量装置及测量方法 [P]. 
刘军 ;
黄政 .
中国专利 :CN104614072B ,2015-05-13