一种半导体元器件的测试治具

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申请号
CN202122887170.4
申请日
2021-11-23
公开(公告)号
CN216848016U
公开(公告)日
2022-06-28
发明(设计)人
汤虎
申请人
申请人地址
215129 江苏省苏州市苏州高新区华山路158-26号(枫桥工业园内)
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
代理机构
上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297
代理人
乔建
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种新型半导体元器件拆卸治具 [P]. 
童怀志 ;
王泗禹 ;
刘宗贺 ;
周体志 ;
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[2]
一种半导体元器件电镀挂具 [P]. 
杜沅羲 .
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[3]
半导体元器件 [P]. 
曾繁川 ;
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[4]
一种半导体元器件测试装置 [P]. 
张芳佳 .
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[5]
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[6]
一种半导体元器件测试装置 [P]. 
孙怒涛 ;
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杨剑 ;
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[7]
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张超 ;
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[8]
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[9]
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[10]
一种半导体元器件的测试固定结构 [P]. 
彭诚 ;
丁敏丽 .
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