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光学角度特性测定装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN98811260.4
申请日
:
1998-11-19
公开(公告)号
:
CN1279763A
公开(公告)日
:
2001-01-10
发明(设计)人
:
筒井和典
岡宏一
船户正好
川口晃
浜田哲男
辻尾典男
申请人
:
申请人地址
:
日本大阪
IPC主分类号
:
G01N1500
IPC分类号
:
代理机构
:
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人
:
陈健
法律状态
:
实质审查请求的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2001-01-17
实质审查请求的生效
实质审查请求的生效
2004-10-06
授权
授权
2001-01-10
公开
公开
2010-01-20
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
共 50 条
[1]
光学特性测定装置
[P].
鹤谷克敏
论文数:
0
引用数:
0
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0
鹤谷克敏
.
中国专利
:CN109073502B
,2018-12-21
[2]
光学特性测定装置以及光学特性测定方法
[P].
鹤谷克敏
论文数:
0
引用数:
0
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0
鹤谷克敏
.
中国专利
:CN106461465A
,2017-02-22
[3]
光学特性测定装置以及光学特性测定方法
[P].
冈本宗大
论文数:
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冈本宗大
;
佐佐木勇贵
论文数:
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佐佐木勇贵
;
罗先钦
论文数:
0
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0
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0
罗先钦
.
中国专利
:CN108204788B
,2018-06-26
[4]
光学特性测定装置和光学特性测定方法
[P].
石丸伊知郎
论文数:
0
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0
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0
石丸伊知郎
.
中国专利
:CN109642868B
,2019-04-16
[5]
光学元件特性测定装置
[P].
桂光广
论文数:
0
引用数:
0
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0
桂光广
.
中国专利
:CN108139205A
,2018-06-08
[6]
适于光谱测定的光学特性测定装置以及光学特性测定方法
[P].
佐野弘幸
论文数:
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佐野弘幸
;
大川内真
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大川内真
;
大岛浩正
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大岛浩正
;
大久保和明
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大久保和明
;
水口勉
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水口勉
;
志摩史郎
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志摩史郎
.
中国专利
:CN101726361A
,2010-06-09
[7]
光纤特性测定装置
[P].
松浦聪
论文数:
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松浦聪
;
古川靖
论文数:
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0
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0
古川靖
.
中国专利
:CN106500970B
,2017-03-15
[8]
光纤特性测定装置
[P].
小山田弥平
论文数:
0
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0
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0
小山田弥平
.
中国专利
:CN101201292B
,2008-06-18
[9]
光学测定装置及光学测定方法
[P].
近藤房宣
论文数:
0
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近藤房宣
;
岩田直树
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岩田直树
;
松村朋和
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松村朋和
;
竹下照雄
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0
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0
竹下照雄
.
中国专利
:CN115398210A
,2022-11-25
[10]
光学测定装置及光学测定方法
[P].
近藤房宣
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
近藤房宣
;
岩田直树
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
岩田直树
;
松村朋和
论文数:
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机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
松村朋和
;
竹下照雄
论文数:
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0
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0
机构:
浜松光子学株式会社
浜松光子学株式会社
竹下照雄
.
日本专利
:CN115398210B
,2025-11-07
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