光学元件特性测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201680059885.X

申请日：

2016-07-04

公开(公告)号：

CN108139205A

公开(公告)日：

2018-06-08

发明(设计)人：

桂光广

申请人：

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

张晶;谢顺星

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-01-03	授权	授权
2018-07-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20160704
2018-06-08	公开	公开

共 50 条

[1]

衍射光学元件的光学特性测定方法及衍射光学元件的光学特性测定装置 [P].

安藤贵真 ;

是永继博 .

中国专利 :CN101553721A ,2009-10-07

[2]

光学特性测定装置 [P].

鹤谷克敏 .

中国专利 :CN109073502B ,2018-12-21

[3]

光学元件和使用该光学元件的光学测定装置 [P].

内田真司 .

中国专利 :CN1942754A ,2007-04-04

[4]

光学元件和光学式浓度测定装置 [P].

安田大贵 ;

古屋贵明 .

日本专利 :CN114965336B ,2025-09-05

[5]

光学特性测定装置以及光学特性测定方法 [P].

鹤谷克敏 .

中国专利 :CN106461465A ,2017-02-22

[6]

光学特性测定装置以及光学特性测定方法 [P].

冈本宗大 ;

佐佐木勇贵 ;

罗先钦 .

中国专利 :CN108204788B ,2018-06-26

[7]

光学特性测定装置和光学特性测定方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN109642868B ,2019-04-16

[8]

光学角度特性测定装置 [P].

筒井和典 ;

岡宏一 ;

船户正好 ;

川口晃 ;

浜田哲男 ;

辻尾典男 .

中国专利 :CN1279763A ,2001-01-10

[9]

光学特性测定装置以及光学系统 [P].

冈本宗大 ;

佐野弘幸 .

中国专利 :CN106990052B ,2017-07-28

[10]

适于光谱测定的光学特性测定装置以及光学特性测定方法 [P].

佐野弘幸 ;

大川内真 ;

大岛浩正 ;

大久保和明 ;

水口勉 ;

志摩史郎 .

中国专利 :CN101726361A ,2010-06-09

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