半导体器件及半导体器件的制造方法

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专利类型
发明
申请号
CN200410008861.0
申请日
2004-03-24
公开(公告)号
CN100338743C
公开(公告)日
2004-10-06
发明(设计)人
秋山和隆
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
H01L2131
IPC分类号
H01L213205 H01L21301
代理机构
北京市中咨律师事务所
代理人
杨晓光;李峥
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件的制造方法及半导体器件 [P]. 
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冈田大介 ;
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塚本惠介 ;
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宿利章二 ;
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[2]
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[3]
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[4]
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[5]
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江间泰示 ;
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[6]
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[7]
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[8]
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[10]
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