一种用于集成运放测试的装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200920245790.4

申请日：

2009-12-16

公开(公告)号：

CN201555931U

公开(公告)日：

2010-08-18

发明(设计)人：

李仰鹤

申请人：

申请人地址：

710065 陕西省西安市高新区锦业路28号创业新大陆工业园B-1

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

西安弘理专利事务所 61214

代理人：

罗笛

法律状态：

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国省代码：

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-03-30	文件的公告送达	文件的公告送达号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101079275436 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL2009202457904 专利申请号:2009202457904 收件人:西安明泰半导体测试有限公司\|财务文件名称:退款审批通知书
2010-08-18	授权	授权
2013-02-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101396122742 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL2009202457904 申请日:20091216 授权公告日:20100818 终止日期:20111216
2011-03-30	文件的公告送达	文件的公告送达号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101077709960 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL2009202457904 专利申请号:2009202457904 收件人:西安明泰半导体测试有限公司\|财务文件名称:审查业务专用函

共 50 条

[1]

一种集成电路测试系统的运放测试模块 [P].

李杰 .

中国专利 :CN212031656U ,2020-11-27

[2]

一种双运放集成电路高速测试系统 [P].

李卫国 ;

崔华醒 ;

谭永良 ;

李嘉颖 ;

林耀宗 .

中国专利 :CN208207143U ,2018-12-07

[3]

一种用于集成电路测试的装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN202494701U ,2012-10-17

[4]

一种集成运放芯片测试实验装置 [P].

王丰芹 .

中国专利 :CN221804197U ,2024-10-01

[5]

用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置 [P].

李远 ;

盖晓峰 .

中国专利 :CN222996768U ,2025-06-17

[6]

一种集成电路测试座的探针脚测试装置 [P].

洪学成 .

中国专利 :CN215910595U ,2022-02-25

[7]

一种集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

周学志 ;

谢清冬 .

中国专利 :CN207067178U ,2018-03-02

[8]

一种集成电路测试系统的数字测试模块 [P].

李杰 .

中国专利 :CN212031657U ,2020-11-27

[9]

一种用于集成电路测试的基板 [P].

谭小春 .

中国专利 :CN2788196Y ,2006-06-14

[10]

一种集成电路老化测试装置 [P].

赖柱光 ;

赖冬敏 .

中国专利 :CN222994609U ,2025-06-17

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