一种纱线断裂强度测试装置

被引:0
申请号
CN202122040934.6
申请日
2021-08-27
公开(公告)号
CN216594502U
公开(公告)日
2022-05-24
发明(设计)人
李军 毛文君 吴新雄 陈五一 代泽勇 张荣强 刘成春
申请人
申请人地址
365114 福建省三明市尤溪县经济开发区城西园42号
IPC主分类号
G01N308
IPC分类号
G01N302
代理机构
深圳至诚化育知识产权代理事务所(普通合伙) 44728
代理人
刘英
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种薄膜断裂强度测试装置 [P]. 
金怀龙 ;
孟洲渔 ;
胡凯 .
中国专利 :CN216433737U ,2022-05-03
[2]
织物断裂强度测试装置 [P]. 
郭斌 ;
刘争春 .
中国专利 :CN209264464U ,2019-08-16
[3]
织物断裂强度测试装置 [P]. 
郭斌 ;
刘争春 .
中国专利 :CN109342221A ,2019-02-15
[4]
一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P]. 
张鑫钰 .
中国专利 :CN211206078U ,2020-08-07
[5]
一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P]. 
彭朝亮 .
中国专利 :CN209656454U ,2019-11-19
[6]
一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P]. 
陈美金 .
中国专利 :CN208187869U ,2018-12-04
[7]
一种纳米膜断裂强度测试装置 [P]. 
刘科海 ;
张超 ;
杨方友 ;
杨秀华 ;
陈益 ;
王恩哥 .
中国专利 :CN214066779U ,2021-08-27
[8]
一种硬质合金横向断裂强度测试装置 [P]. 
陈林 ;
谢韶 ;
陈辉 ;
周磊 ;
邓林 ;
葛超 ;
赵永胜 ;
皮天智 ;
陈勤 .
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[9]
一种高强聚酯长丝非织造布断裂强度测试装置 [P]. 
戴泽新 ;
戴梦茜 ;
朱闻宇 ;
徐平 ;
康玉杰 ;
陈晴 ;
袁震 .
中国专利 :CN210513947U ,2020-05-12
[10]
一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P]. 
陈美金 .
中国专利 :CN108760529A ,2018-11-06