一种纳米膜断裂强度测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202023343686.4

申请日：

2020-12-30

公开(公告)号：

CN214066779U

公开(公告)日：

2021-08-27

发明(设计)人：

刘科海张超杨方友杨秀华陈益王恩哥

申请人：

申请人地址：

523000 广东省东莞市松山湖大学创新城A1栋

IPC主分类号：

G01N312

IPC分类号：

G01N306

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

余菲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-08-27	授权	授权

共 50 条

[1]

一种纳米膜断裂强度测试方法及装置 [P].

刘科海 ;

张超 ;

杨方友 ;

杨秀华 ;

陈益 ;

刘开辉 ;

王恩哥 .

中国专利 :CN112730086B ,2025-04-04

[2]

一种纳米膜断裂强度测试方法及装置 [P].

刘科海 ;

张超 ;

杨方友 ;

杨秀华 ;

陈益 ;

王恩哥 .

中国专利 :CN112730086A ,2021-04-30

[3]

织物断裂强度测试装置 [P].

郭斌 ;

刘争春 .

中国专利 :CN209264464U ,2019-08-16

[4]

织物断裂强度测试装置 [P].

郭斌 ;

刘争春 .

中国专利 :CN109342221A ,2019-02-15

[5]

一种纱线断裂强度测试装置 [P].

李军 ;

毛文君 ;

吴新雄 ;

陈五一 ;

代泽勇 ;

张荣强 ;

刘成春 .

中国专利 :CN216594502U ,2022-05-24

[6]

一种薄膜断裂强度测试装置 [P].

金怀龙 ;

孟洲渔 ;

胡凯 .

中国专利 :CN216433737U ,2022-05-03

[7]

一种硬质合金横向断裂强度测试装置 [P].

陈林 ;

谢韶 ;

陈辉 ;

周磊 ;

邓林 ;

葛超 ;

赵永胜 ;

皮天智 ;

陈勤 .

中国专利 :CN217132770U ,2022-08-05

[8]

一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P].

张鑫钰 .

中国专利 :CN211206078U ,2020-08-07

[9]

一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P].

彭朝亮 .

中国专利 :CN209656454U ,2019-11-19

[10]

一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P].

陈美金 .

中国专利 :CN108760529A ,2018-11-06

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