一种LED芯片抗断裂强度测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201922303801.6
申请日
2019-12-19
公开(公告)号
CN211206078U
公开(公告)日
2020-08-07
发明(设计)人
张鑫钰
申请人
申请人地址
528305 广东省佛山市顺德区容桂华口居委会昌宝东路16号天富来国际工业城八期7座604号
IPC主分类号
G01N320
IPC分类号
代理机构
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616
代理人
邓凌云
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P]. 
彭朝亮 .
中国专利 :CN209656454U ,2019-11-19
[2]
一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P]. 
陈美金 .
中国专利 :CN208187869U ,2018-12-04
[3]
一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P]. 
陈美金 .
中国专利 :CN108760529A ,2018-11-06
[4]
LED芯片抗断裂强度的测试方法及其测试装置 [P]. 
杨人龙 ;
张平 ;
林笑洁 .
中国专利 :CN105203393A ,2015-12-30
[5]
一种纱线断裂强度测试装置 [P]. 
李军 ;
毛文君 ;
吴新雄 ;
陈五一 ;
代泽勇 ;
张荣强 ;
刘成春 .
中国专利 :CN216594502U ,2022-05-24
[6]
一种薄膜断裂强度测试装置 [P]. 
金怀龙 ;
孟洲渔 ;
胡凯 .
中国专利 :CN216433737U ,2022-05-03
[7]
织物断裂强度测试装置 [P]. 
郭斌 ;
刘争春 .
中国专利 :CN209264464U ,2019-08-16
[8]
织物断裂强度测试装置 [P]. 
郭斌 ;
刘争春 .
中国专利 :CN109342221A ,2019-02-15
[9]
一种纳米膜断裂强度测试装置 [P]. 
刘科海 ;
张超 ;
杨方友 ;
杨秀华 ;
陈益 ;
王恩哥 .
中国专利 :CN214066779U ,2021-08-27
[10]
一种LED芯片强度测试装置 [P]. 
马帅 .
中国专利 :CN212059674U ,2020-12-01