用于封装半导体器件试验的夹具

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921232804.9
申请日
2019-07-31
公开(公告)号
CN210571712U
公开(公告)日
2020-05-19
发明(设计)人
王伯淳 李先亚 王瑞崧 袁云华 田健 马清桃 杨帆 陆洋
申请人
申请人地址
432000 湖北省孝感市长征路95号
IPC主分类号
G01N304
IPC分类号
代理机构
武汉开元知识产权代理有限公司 42104
代理人
徐祥生
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
用于多种封装半导体器件试验的夹具 [P]. 
杜思奇 ;
胡晓凤 ;
王伯淳 ;
陆洋 ;
田健 ;
袁云华 ;
王瑞崧 ;
马清桃 ;
杨帆 ;
邓昊 ;
张梦婷 ;
金泓桥 .
中国专利 :CN223139621U ,2025-07-22
[2]
用于EMMI分析的扁平封装半导体器件夹具 [P]. 
廉鹏飞 ;
张辉 ;
李娟 ;
刘楠 ;
鲁子牛 ;
李君恒 ;
孔泽斌 ;
楼建设 ;
王昆黍 .
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[3]
封装的半导体器件 [P]. 
A·普拉扎卡莫 ;
良仁勇 ;
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[4]
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小平正司 ;
渡利英作 ;
中村顺一 ;
松元俊一郎 .
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[5]
用于半导体器件的封装 [P]. 
大井和彦 ;
小平正司 ;
渡利英作 ;
中村顺一 ;
松元俊一郎 .
中国专利 :CN100595913C ,2008-10-29
[6]
半导体器件封装 [P]. 
C·卡奇雅 .
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[7]
一种半导体器件的试验夹具 [P]. 
林楹镇 ;
刘石头 ;
付永佩 ;
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[8]
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刘磊 ;
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[9]
器件、封装的半导体器件和半导体器件封装方法 [P]. 
余振华 ;
余国宠 .
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[10]
半导体器件、半导体封装以及用于测试半导体器件的方法 [P]. 
田中裕幸 ;
伊藤由人 ;
関山昭則 .
中国专利 :CN1467836A ,2004-01-14