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用于形成半导体器件的方法以及半导体器件
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201710367719.2
申请日
:
2017-05-23
公开(公告)号
:
CN107452716B
公开(公告)日
:
2017-12-08
发明(设计)人
:
弗兰科·马里亚尼
科比尼安·卡斯帕
申请人
:
申请人地址
:
德国瑙伊比贝尔格市
IPC主分类号
:
H01L23544
IPC分类号
:
H01L21304
代理机构
:
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
:
康建峰;陈炜
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-01-05
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/544 申请日:20170523
2017-12-08
公开
公开
2020-10-16
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体器件以及用于形成半导体器件的方法
[P].
尹汝俊
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0
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机构:
JCET星科金朋韩国有限公司
JCET星科金朋韩国有限公司
尹汝俊
;
李承炫
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机构:
JCET星科金朋韩国有限公司
JCET星科金朋韩国有限公司
李承炫
;
李喜秀
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机构:
JCET星科金朋韩国有限公司
JCET星科金朋韩国有限公司
李喜秀
.
韩国专利
:CN120834015A
,2025-10-24
[2]
用于形成半导体器件的方法以及半导体器件
[P].
奥利弗·黑尔蒙德
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奥利弗·黑尔蒙德
;
彼得·伊尔西格勒
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彼得·伊尔西格勒
;
塞巴斯蒂安·施密特
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塞巴斯蒂安·施密特
;
汉斯-约阿希姆·舒尔策
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汉斯-约阿希姆·舒尔策
;
马丁纳·赛德尔-施密特
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马丁纳·赛德尔-施密特
.
中国专利
:CN107527817B
,2017-12-29
[3]
半导体器件以及用于形成半导体器件的方法
[P].
H-G·埃克尔
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H-G·埃克尔
;
M·米勒
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M·米勒
.
中国专利
:CN105895700B
,2016-08-24
[4]
用于形成半导体器件的方法以及半导体器件
[P].
A.布雷梅泽尔
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A.布雷梅泽尔
;
A.布罗克迈尔
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A.布罗克迈尔
;
R.克恩
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R.克恩
;
R.鲁普
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R.鲁普
;
F.J.桑托斯罗德里格斯
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F.J.桑托斯罗德里格斯
;
C.冯科布林斯基
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0
C.冯科布林斯基
.
中国专利
:CN107799429B
,2018-03-13
[5]
用于形成半导体器件的方法以及半导体器件
[P].
罗曼·罗特
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罗曼·罗特
;
弗兰克·翁巴赫
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弗兰克·翁巴赫
.
中国专利
:CN107437511B
,2017-12-05
[6]
用于形成半导体器件的方法以及半导体器件
[P].
A.布雷梅泽尔
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A.布雷梅泽尔
;
A.布罗克迈尔
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A.布罗克迈尔
;
R.克恩
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R.克恩
;
R.鲁普
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R.鲁普
;
F.J.桑托斯罗德里格斯
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F.J.桑托斯罗德里格斯
;
C.冯科布林斯基
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C.冯科布林斯基
.
中国专利
:CN114496765A
,2022-05-13
[7]
半导体器件以及形成半导体器件的方法
[P].
尤宏志
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尤宏志
;
陈建茂
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陈建茂
.
中国专利
:CN109786365B
,2019-05-21
[8]
半导体器件以及形成半导体器件的方法
[P].
朱慧珑
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朱慧珑
;
林红
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林红
.
中国专利
:CN101097955A
,2008-01-02
[9]
用于形成半导体器件的方法以及半导体器件
[P].
W·莱纳特
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W·莱纳特
;
R·鲁普
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R·鲁普
;
F·J·桑托斯罗德里格斯
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F·J·桑托斯罗德里格斯
;
H-J·舒尔策
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H-J·舒尔策
.
中国专利
:CN106449507A
,2017-02-22
[10]
半导体器件以及用于形成半导体器件的方法
[P].
石志聪
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
石志聪
;
卢皓彦
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
卢皓彦
;
徐英杰
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台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
徐英杰
;
斯帝芬鲁苏
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
斯帝芬鲁苏
;
周淳朴
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
周淳朴
.
中国专利
:CN114284382B
,2024-06-14
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