片材外观缺陷检测装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910841390.8

申请日：

2019-09-06

公开(公告)号：

CN110579490A

公开(公告)日：

2019-12-17

发明(设计)人：

黄前跃

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市罗湖区莲塘鹏基工业区710栋6楼

IPC主分类号：

G01N2189

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

深圳中细软知识产权代理有限公司 44528

代理人：

阎昱辰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-01-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/89 申请日:20190906
2019-12-17	公开	公开
2022-03-25	授权	授权

共 50 条

[1]

外观缺陷检测方法及装置 [P].

闫静 ;

舒远 ;

王星泽 .

中国专利 :CN111344554A ,2020-06-26

[2]

增材制造的缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

郭师峰 ;

冯伟 ;

吕高龙 ;

张艳辉 ;

徐天添 ;

李岩 ;

吴新宇 .

中国专利 :CN110954542A ,2020-04-03

[3]

一种偏光片外观缺陷检测装置及检测方法 [P].

严伟端 ;

严红磊 .

中国专利 :CN116952979B ,2024-02-02

[4]

外观缺陷检测装置 [P].

陈翠红 ;

潘正颐 ;

侯大为 .

中国专利 :CN222625422U ,2025-03-18

[5]

固态电容外观缺陷检测装置及检测方法 [P].

王永明 .

中国专利 :CN121198608A ,2025-12-26

[6]

石墨膜材缺陷检测方法和石墨膜材缺陷检测装置 [P].

邓东升 ;

唐永亮 ;

孙天齐 .

中国专利 :CN117788935A ,2024-03-29

[7]

缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P].

久利龙平 .

中国专利 :CN111323423A ,2020-06-23

[8]

缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P].

山崎隆一 .

中国专利 :CN101600957A ,2009-12-09

[9]

缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P].

久利龙平 .

日本专利 :CN111323423B ,2024-01-30

[10]

缺陷检测方法及缺陷检测装置 [P].

杨学红 .

中国专利 :CN109726131B ,2019-05-07

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