半导体器件及其制造方法

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专利类型
发明
申请号
CN201910658647.6
申请日
2019-07-19
公开(公告)号
CN110858581A
公开(公告)日
2020-03-03
发明(设计)人
金成玟 河大元
申请人
申请人地址
韩国京畿道
IPC主分类号
H01L25065
IPC分类号
H01L2198 H01L27088
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
倪斌
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
山下朋弘 .
中国专利 :CN109473438A ,2019-03-15
[2]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
饭沼俊彦 .
中国专利 :CN1472820A ,2004-02-04
[3]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
德田悟 .
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[4]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
日野美德 ;
武石直英 ;
谷口敏光 .
中国专利 :CN1258817C ,2002-09-25
[5]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
金成玟 ;
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[6]
半导体器件和半导体器件的制造方法 [P]. 
伊藤贵之 .
中国专利 :CN1574292A ,2005-02-02
[7]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
松尾浩司 .
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[8]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
八重樫利武 ;
盐泽顺一 .
中国专利 :CN100448010C ,2006-08-16
[9]
半导体器件及其制造方法 [P]. 
满生彰 .
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半导体器件及其制造方法 [P]. 
佐甲隆 ;
户田麻美 .
中国专利 :CN101132004B ,2008-02-27